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数据表
S5L9250B
±
。 TEST MODE
1.1 BI9250X测试模式的设置条件:扫描使能信号( PAD75 )
PIN号
名字
正常正常正常
英特尔
MOTOROL
a
P37
P41
P42
P44
TEST1
TEST2
TEST3
TEST4
L
L
L
L
L
L
L
H
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L
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H
H
L
的间接
NAND soak_te
_Tree
st
glue_ glue_ind BIST SCAN_ block_in block_m block_in srom_te sdac_te
ir
模式模式
电话
OTOROLA
DIR
st
st
_intel摩托罗拉
1.2 S5L9250B座测试模式的设置特点
BI9250X可以以各种模式b调节的P37 ,P41 , P42 , P44中, theTEST1 , TEST2中的值进行操作,
TEST3 , TEST4 。作者INTEL , MOTOROLA师范大学和师范间接模式中使用模式
正常运转,这使得微型计算机I / F工作在INTEL模式, Motorola模式,或间接的
MODE 。其余的6种模式的测试模式,包括NAND树测试, OAK核测试,伺服
ROM测试, ECC SRAM测试( BIST ) , SCAN TEST MODE , BLOCK测试模式。你需要设置4个测试
根据您想要的模式引脚。在测试模式之上的,胶水测试和block_test调整TEST1 ,2,3 ,和
4分别用英特尔,摩托罗拉和间接模式。
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