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IDT72T1845 / 55 /65 /八十五分之七十五/一百〇五分之九十五/一百二十五分之一百一十五2.5V TeraSync 18位/ 9位的FIFO
2Kx18 / 4Kx9 , 4Kx18 /
8Kx9 , 8Kx18 / 16Kx9 , 16Kx18 / 32Kx9 , 32Kx18 / 64Kx9 , 64Kx18 / 128Kx9 , 128Kx18 / 256Kx9 , 256Kx18 / 512Kx9 , 512Kx18 / 1Mx9
商业和工业
温度范围
指令寄存器
指令寄存器允许一条指令进行串行移位到
处理器在TCLK的上升沿。
该指令用于选择测试来进行,或者测试数据
寄存器进行访问,或两者。移入移位寄存器的指令锁存
在完成换档过程中,当TAP控制器处于更新 -
IR状态。
指令寄存器必须包含4位指令寄存器为基础的细胞
可容纳指令数据。这些强制的细胞位于最靠近
串行输出它们是至少显著位。
测试数据寄存器
测试数据寄存器包含三个测试数据寄存器:旁路,中
边界扫描寄存器和器件ID寄存器。
这些寄存器并联连接,一个普通的串行输入之间
和一个通用的串行数据输出。
以下部分提供了每个元素的简短描述。对于
完整描述,请参考IEEE标准测试访问端口规格
( IEEE标准1149.1-1990 ) 。
TEST旁路寄存器
该寄存器用于允许测试数据流经由TDI的设备
到TDO 。它包含了一个单级的移位寄存器为最小长度,串行路径。
当旁路寄存器被选择的指令,所述移位寄存器级
被设置为逻辑零在TCLK的上升沿时, TAP控制器处于
在Capture-DR状态。
旁路寄存器的操作不应该对任何影响
该装置响应于所述旁路指令操作。
边界扫描寄存器
边界扫描寄存器允许串行数据TDI在被加载或读取
出的处理器输入/输出端口。边界扫描寄存器是一个组成部分
在IEEE 1149.1-1990标准的JTAG执行。
设备识别寄存器
设备识别寄存器是一个只读的32位寄存器,用于
指定处理器的制造商,型号和版本是
通过TAP响应IDCODE指令来确定。
IDT JEDEC ID号是0xB3 。这转化为0x33时,奇偶校验
滴加在11位的制造商ID字段。
对于IDT72T1845 / 72T1855 / 72T1865 / 72T1875 / 72T1885 / 72T1895 /
72T18105 / 72T18115 / 72T18125 ,零件号字段包含以下内容
价值观:
设备
IDT72T1845
IDT72T1855
IDT72T1865
IDT72T1875
IDT72T1885
IDT72T1895
IDT72T18105
IDT72T18115
IDT72T18125
零件号场
040E
040D
040C
040B
040A
0409
0419
0418
0417
31(MSB)
28 27
12 11
1 0 ( LSB)的
版本(4位)部件号( 16位)的制造商的ID (11位)的
0X0
0X33
1
IDT72T1845 / 55 /65 /八十五分之七十五/一百〇五分之九十五/一百二十五分之一百一十五JTAG器件识别寄存器
JTAG指令寄存器
指令寄存器允许指令是串行地输入到设备中
当TAP控制器处于Shift - IR状态。该指令被解码,以
执行以下操作:
选择的测试数据寄存器,可以操作,而指令是
电流。其他的测试数据寄存器不应该干扰芯片
操作与所选择的数据寄存器中。
定义用于转移之间的数据串行测试数据寄存器路径
在数据TDI和TDO注册扫描。
指令寄存器是一个4位字段(即IR3 , IR2 , IR1 , IR0 )进行解码
16种不同的可能的说明。指令被解码如下。
(十六进制)
价值
0x00
0x02
0x01
0x03
0x0F
指令
EXTEST
IDCODE
采样/预
高阻抗
绕行
功能
选择边界扫描寄存器
选择的芯片标识数据寄存器
选择边界扫描寄存器
JTAG
选择旁路寄存器
JTAG指令寄存器解码
以下各节提供每个指令的简短说明。为
一个完整的描述,请参见IEEE标准测试访问端口规格
( IEEE标准1149.1-1990 ) 。
EXTEST
所需的EXTEST指令放置在IC到外部boundary-
测试模式,并选择所述边界扫描寄存器中待连接的TDI之间
和TDO 。在这个指令,所述边界扫描寄存器被访问到
通过边界输出驱动测试数据片并接收测试数据的片
通过边界的投入。正因为如此, EXTEST指令的主力
IEEE 。 1149.1 ,为焊点的探针测试少开/短路
与逻辑集群功能。
IDCODE
可选的IDCODE指令允许IC保持其功能模式
并选择可选设备标识寄存器之间的连接
TDI和TDO 。设备标识寄存器是含有一个32位的移位寄存器
关于集成电路的制造商,设备类型和版本代码信息。
访问设备识别寄存器不与操作干扰
IC的。另外,对设备的访问标识寄存器应立即
可经由TAP数据扫描操作中,在上电后的IC或之后的
TAP已经使用可选的复位
TRST
销或通过其他方式移动到
测试逻辑复位状态。
采样/预
所需SAMPLE / PRELOAD指令允许IC保持在
正常功能模式并选择边界扫描寄存器中待连接
之间TDI和TDO 。在此指令中,边界扫描寄存器可以
通过一个日期扫描操作来访问,取的功能数据的一个样本
进入和离开的集成电路。该指令还用于预加载的测试数据到
加载EXTEST指令之前的边界扫描寄存器中。
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