IDT72T1845 / 55 /65 /八十五分之七十五/一百〇五分之九十五/一百二十五分之一百一十五2.5V TeraSync 18位/ 9位的FIFO

2Kx18 / 4Kx9 ， 4Kx18 /

8Kx9 ， 8Kx18 / 16Kx9 ， 16Kx18 / 32Kx9 ， 32Kx18 / 64Kx9 ， 64Kx18 / 128Kx9 ， 128Kx18 / 256Kx9 ， 256Kx18 / 512Kx9 ， 512Kx18 / 1Mx9

商业和工业

温度范围

1

TEST- LOGIC

RESET

0

1

1

1

选择 -

IR- SCAN

1

0

捕获红外

0

按住Shift -IR

1

Exit1-IR

0

暂停-IR

1

0

Exit2-IR

1

更新IR

1

0

5909 drw12

0

运行测试/

空闲

选择 -

DR -SCAN

0

1

捕捉-DR

0 0

按住Shift -DR

1

0

输入TMS =

EXit1-DR

0 0

暂停-DR

1

0

Exit2-DR

1

更新DR

1

0

1

1

0

注意事项：

1.五个连续的TCK周期，TMS = 1将复位TAP 。

2. TAP控制器不会自动上电复位。用户必须提供一个复位到TAP控制器（或者通过

TRST

或TMS ） 。

3. TAP控制器必须重置之前正常的FIFO操作就可以开始。

图8. TAP控制器状态图

参考IEEE标准测试访问端口规范（IEEE标准。

1149.1 ），为全状态图

TAP控制器中的所有状态转换发生的上升沿

TCLK脉冲。 TMS的信号电平（ 0或1）确定状态的进展

发生在每个TCLK上升沿。 TAP控制器的优先级

在FIFO存储器和之后的设备的加电，必须复位。看

TRST

说明在TAP控制器复位的更多细节。

测试逻辑复位

所有的测试逻辑在此控制器状态使禁用

该集成电路的正常工作。 TAP控制器状态机的设计是这样

的方式，不管是什么控制器的初始状态是，该测试逻辑复位

国家可以通过按住TMS在高脉冲TCK五次输入。这

所以测试复位（ TRST ）引脚是可选的原因。

运行测试空闲

在该控制器的状态，在IC测试逻辑被激活仅当

某些指令都存在。例如，如果一个指令激活自

测试，然后将它当控制器进入此状态下进行。测试逻辑

在IC处于空闲，否则。

选择DR扫描

这是一个控制状态下，决定输入

数据路径或选择-IR- Scan状态而成。

选择红外扫描

这是一个控制状态下，决定输入

指令路径而成。该控制器可以返回到Test- Logic-Reset状态

其他明智的。

31

捕获红外

在此控制器状态，移位寄存器组中的指令

注册并联负载固定值的模式在TCK的上升沿。该

最后两个显著位总是被规定为“ 01” 。

按住Shift -IR

在这种状态下控制器，指令寄存器被连接

TDI和TDO ，以及所捕获的图案之间被移位的每个上升沿

的TCK 。 TDI管脚上提供的指令也被移位到指令

注册。

Exit1-IR

这是一个控制器状态决定进入任一Pause-

IR状态或更新IR状态下进行。

暂停-IR

该状态中，以允许指令的移位提供

注册要暂时停止。

Exit2-DR

这是一个控制器状态决定进入无论是按住Shift

IR状态或更新IR状态下进行。

更新IR

在此控制器状态，在指令寄存器中的指令是

锁存到指令寄存器锁存银行对每一个下降沿

TCK 。该指令也成为当前指令一旦被锁定。

捕捉-DR

在该控制器的状态中，数据是并行加载到数据

寄存器通过TCK的上升沿当前指令选择。

按住Shift -DR ，退出1- DR ，暂停-DR ，退出2 -DR和Update -DR

这些

控制器状态类似于移位IR ，退出1- IR，暂停-IR，退出2 -IR和

更新IR状态中的指令路径。