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多用途闪存（ MPF） + SRAM ComboMemory
SST32HF802 / SST32HF162 / SST32HF164
数据表
VIHT
输入
VIT
参考点
VOT
产量
VILT
520 ILL F11.0
AC测试输入在V驱动
IHT
(0.9 V
DD
）为一个逻辑“1”和第五
ILT
(0.1 V
DD
）为一个逻辑“0”。测量参考点
输入和输出是V
IT
(0.5 V
DD
）和V
OT
(0.5 V
DD
） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90％）是<5纳秒。
注意：
V
IT
- V
输入
TEST
V
OT
- V
产量
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图16 ： AC I
NPUT
/O
安输出
R
指南
W
AVEFORMS
TO测试仪
到DUT
CL
520 ILL F12.0
图17 ：一件T
美东时间
L
OAD
E
XAMPLE
2001硅存储技术公司
S71171-05-000 8/01
520
19
