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HS-1840ARH
老化/寿命测试电路
R
+V
S
R
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
R
-V
S
+V
S
R
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
R
-V
S
R
F5
F1
F2
F3
GND
F4
GND
V
R
R
注意事项：
V
S
+ = +15.5V
±0.5V,
V
S
- = -15.5V
±0.5V.
R = 1kΩ的
±5%.
C
1
= C
2
= 0.01F
±10%,
每1每个插槽，最低。
D
1
= D
2
= 1N4002 ，各1个每块电路板，最小程度。
输入信号：方波，占空比为50％ ， 0V至15V的峰
±10%.
F1 = 100kHz的; F2 = F1 / 2 ; F3 = F1 / 4 ; F4 = F1 / 8 ; F5 = F1 / 16 。
图1.动态BURN -IN和寿命测试电路
注意事项：
1.上述测试电路被用于所有包类型。
2.动态测试电路被用于所有的寿命试验。
注意事项：
R = 1kΩ的
±5%,
1
/
4
W.
C
1
= C
2
= 0.01μF最低，各1每个插槽，最小值。
V
S
+ = 15.5V
±0.5V,
V
S
- = -15.5V
±0.5V,
V
R
= 15.5
±0.5V.
图2.静态BURN- IN测试电路
辐照电路
HS-1840ARH
+15V
NC
NC
+1V
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
-15V
1k
+5V
注意：
3.在28引脚CERDIP封装完成所有辐射测试。
3
