飞思卡尔半导体公司
对于特定失效的温度加速因子
机构可以通过采取比率为反应相关
所表达的两个不同的压力水平的速率
阿累尼乌斯型方程。的数学推导
第一阶化学反应速率计算到：
(R
T
)
HS
t
HS
AF
t
LS
(R
T
)
LS
其中：
eA
T
LS
T
HS
THEN ;
AF
=
=
=
=
0.7EV / °K （假设）
55℃ + 273.16 = 328.16 °K
125°C + 273.16 = 398.16 °K
77.64
+
+
AF
其中：
AF
R
T
t
T
Ea
=
=
=
=
=
=
=
=
+
EXP
Ea
k
1
T
LS
*
T1
HS
因此，相当于累积设备处小时
客户的使用条件是：
t
LS
=
AF x深
HS
= (32
500)
77.64
or
t
LS
=
1242172器件小时
计算的下片面故障率具有90 ％置信
置信水平，没有失败：
x
2
(
a
， D.F.
)
l
2t
or
λ
=
每小时1.853E -06失败
or
λ
=
1853 FITS
飞思卡尔半导体公司...
k
LS
HS
加速因子
反应速度
时间
温度[° K]的
表达活化能
在电子伏特[曝光]
玻尔兹曼常数， 8.6171 ×10-5的EV / °K
低应力或名义下
高应力或温度测试
+
活化能是依赖于机器人，失败
NISM并且通常变化从0.3到1.8电子伏特。该
活化能是成正比的程度
影响温度对化学反应速率。
典型的活化能的列表中包含的参考
[6]和[7] 。
使用Arrenhius公式将demon-为例
strated 。 32设备HTB测试500小时总也没有
进行故障。在125°C ， 100 ％额定电压测试
导致无故障。如果客户的实际使用情况
条件为55 ℃，在全额定电压的估计
下部一侧置信限可以计算出来。一
假设，即故障率是常数从而
这意味着指数分布。第一个步骤是
计算等效器件小时为客户的使用
通过求解加速因子的条件。
从加速因子上面，如果EA假定相等
为1时，
AF
故障的逆，
λ,
或平均故障时间
（MTTF ）为：
1
MTTF
l
or
MTTF = 540000器件小时
+
结论
可靠性测试的持续时间和验收号码
作为基准用于实现足够的性能
在实际使用条件下，在硅压力传感器
可能会遇到的问题。用于可靠性测试的基线可以
与当前创纪录的跳高杆高度。正如
运动员的时间达到更高的性能水平
改善身体和心理健康水平，
硅压力传感器也必须纳入improve-
在设计，材料，以及可制造性ments
实现可靠性增长要求未来的市场
地方需要。这种理念的上房improve-
换货将推动一贯符合客户的
期望和生产一流的产品。
+
EXP
Ea
k
1
T
LS
*
T1
HS
1–8
为
www.motorola.com/semiconductors
产品，
更多有关该
转到： www.freescale.com
摩托罗拉传感器设备数据
