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勘误表
ST7LITE0 ， ST7SUPERLITE
限制和更正
18硅鉴定
这部分的文档，是指转速 ST7FLITE0和ST7FLITES2 / S5设备。
它们是可识别的：
s
s
在器件封装，通过的最后一个字母
跟踪代码
标在器件封装
在包装盒上，通过的最后3位数字
内部销售类型
印在盒上的标签。
表25.设备标识
跟踪代码标注在设备
盒上的标签内部销售类型
7FLITE09Y0M6$U5
7FLITE09Y0B6$U5
7FLITE05Y0M6$U5
7FLITE05Y0B6$U5
7FLITE02Y0M6$U5
7FLITE02Y0B6$U5
7FLITES5Y0M6$U5
7FLITES5Y0B6$U5
7FLITES2Y0M6$U5
7FLITES2Y0B6$U5
闪存器件：
“ xxxxxxxxxY ”
参见
图95
19参考规范
本文件中的限制是参照ST7LITE0 ， ST7SUPERLITE
数据表修订版2.4 （ 2003年8月） 。
20硅限制
20.1负影响注射对ADC精度
注入一个负电流对模拟输入引脚显著降低的准确性
AD转换器。在必要时，负喷射应由额外地防止
化有关的I / O和地面之间的肖特基二极管。
注射对数字输入引脚负电流会降低ADC的精度特别是如果per-
形成在销接近ADC通道使用。
修订版2.5
2003年8月
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