DS21Q55四路T1 / E1 / J1收发器
TAP控制器状态机
TAP控制器是一个有限状态机，响应的逻辑电平上的上升沿JTMS
JTCLK （图
30-2).
测试逻辑复位
上电时， TAP控制器处于Test - Logic-Reset状态。指令寄存器包含
IDCODE指令。该装置的所有系统的逻辑正常操作。
运行测试空闲
运行测试空闲用于扫描操作之间或特定测试。指令寄存器和
测试寄存器保持空闲状态。
选择DR扫描
所有测试寄存器保留其原来的状态。 JTMS为低， JTCLK的上升沿使
控制器进入Capture-DR状态，初始化扫描序列。在上升沿JTMS为高电平
JTCLK移动控制器来选择-IR- Scan状态。
捕捉-DR
数据可以是并行装载到由当前指令所选择的测试数据寄存器。如果该指令的
没有调用并行装载，或者所选寄存器不允许并行装载，测试寄存器
保持在其当前值。在JTCLK的上升沿，控制器进入Shift-DR状态，如果
JTMS为低电平，或者进入到退出1- DR状态，如果JTMS为高。
按住Shift -DR
由当前指令所选择的测试数据寄存器连接在JTDI和JTDO和位移之间
数据中的一个阶段向着其在JTCLK的每个上升沿的串行输出。如果选择了一个测试寄存器
当前指令不是放置在串行路径，它保持其先前的状态。
Exit1-DR
而在这种状态下， JTCLK的上升沿，控制器在使用Update- DR状态，终止
在扫描过程中，如果JTMS为高电平。在JTCLK JTMS为低电平的上升沿，控制器在
暂停- DR状态。
暂停-DR
测试寄存器移位停止，而在该状态下。当前选择的所有测试寄存器
指令保留其原来的状态。该控制器将保持该状态，同时JTMS为低电平。一个崛起
在JTCLK与JTMS高边放，控制器进入退出2 -DR状态。
Exit2-DR
在JTCLK JTMS为高电平的上升沿，而在这种状态下，控制器在使用Update- DR状态
和终止扫描过程。在JTCLK JTMS为低电平的上升沿进入Shift-DR状态。
更新DR
在JTCLK的下降沿而在更新- DR状态，从的移位寄存器通路锁存数据
测试寄存器到数据输出锁存器。这可以防止在变化，因为变化的并行输出
在移位寄存器中。
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