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CY7C1041CV33
交流测试负载和波形
[10]
8- ，10- ns的设备
产量
50
*容性负载由
的的所有组件
测试环境
1.5V
12-， 15-， 20 -NS设备
Z = 50
3.3V
R 317
30 pF的*
产量
30 pF的
R2
351
(a)
(b)
高阻抗特性
R 317
3.0V
90%
GND
10%
所有的输入脉冲
90%
10%
3.3V
产量
5 pF的
R2
351
上升时间： 1 V / ns的
(c)
下降时间： 1 V / ns的
(d)
开关波形
读周期1号
[11, 12]
t
RC
地址
t
AA
t
OHA
数据输出
以前的数据有效
数据有效
读周期2号（ OE控制）
地址
[12, 13]
t
RC
CE
t
ACE
OE
BHE ， BLE
t
美国能源部
t
LZOE
t
DBE
t
LZBE
高阻抗
t
LZCE
V
CC
供应
当前
t
PU
50%
t
HZCE
t
HZBE
数据有效
t
PD
50%
IISB
SB
IICC
CC
t
HZOE
高
阻抗
数据输出
注意事项：
10. AC特性（除了高Z ）的所有8纳秒和10毫微秒的部分使用图（一）所示的负载条件下测试。所有其他的速度正在使用的测试
在图中所示的戴维南负载（ b）所示。高Z特性进行测试，以便使用图（ d）所示的试验负荷所有速度。
11.设备不断选择。 OE ， CE， BHE和/或BHE = V
IL
.
12.我们是高读周期。
13.地址之前或暗合了CE变为低电平有效。
文件编号： 38-05134牧师* D
第11个5
