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ST6208C/ST6209C/ST6210C/ST6220C
EMC特性
（续）
10.7.2.2静态和动态闩锁
s
卢：
3互补的静态测试是必需的
于10份，以评估闭锁性能。
一个电源过压（适用于每个权力
供应针） ，一个电流注入（施加到每个
输入，输出和可配置的I / O引脚）和
电源开关顺序执行
在每个样品上。该测试符合EIA /
JESD 78集成电路闭锁标准。欲了解更多详情，
请参考AN1181应用笔记。
s
DLU ：
静电放电（一个正
再一个负测试）应用于每个引脚
3个样品的当微运行到
评估在动态的闭锁性能
模式。电源被设定为典型
值，振荡器连接尽可能接近
可以向微和销
组件被置于复位状态。该测试
符合IEC1000-4-2和SAEJ1752 / 3
标准及说明
图58 。
为
更多详细信息，请参阅AN1181应用
注。
电气敏感性
符号
LU
DLU
参数
静态闩锁类
动态闩锁类
T
A
=+25°C
T
A
=+85°C
V
DD
=5V,
f
OSC
=4MHz,
T
A
=+25°C
条件
类
1)
A
A
A
注意事项：
一类描述： A类是意法半导体公司内部规范。所有极限比JEDEC光谱高
ifications ，当一个设备属于A类超过JEDEC标准的意思。 B类严格覆盖了所有的
JEDEC标准（国际标准） 。
2.夏弗纳NSG435用尖头试验指。
静电放电发生器DLU图58.简化框图
R
CH
=50M
R
D
=330
排出端头
V
DD
V
SS
C
S
=150pF
ESD
发电机
2)
高压继电器
ST6
放电
返回连接
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