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介绍
表2-2 。信号说明（续）
终奌站
名字
NC
TYPE
描述
杂项信号
无连接
测试针
IEEE标准1149.1 （ JTAG）测试时钟。 TCK是通常具有50 ％占空比的自由运行的时钟信号。该
输入信号TMS和TDI的测试访问端口（ TAP ）的变化移入TAP控制器，
指令寄存器，或者选择的测试数据在TCK的上升沿注册。在TAP输出信号的变化
（ TDO ）发生在TCK的下降沿。
IEEE 1149.1标准的测试数据输入引脚内部上拉电阻。 TDI移入所选择的寄存器
在TCK的上升沿（指令或数据） 。
IEEE标准1149.1的测试数据输出。所选寄存器（指令或数据）的内容被移出
对TDO在TCK的下降沿。 TDO处于高阻抗状态，除非数据的扫描是在
进展情况。 TDO也进入高阻抗状态时EMU1 / OFF为低。
IEEE 1149.1标准的测试模式选择。引脚内部上拉电阻。该系列控制输入移入
在TCK的上升沿TAP控制器。
IEEE 1149.1标准的测试复位。 TRST ，高的时候，给人的IEEE标准1149.1扫描系统控制
该装置的操作。如果TRST未连接或驱动为低电平时，器件工作在它的功能模式，
和IEEE标准1149.1的信号被忽略。引脚内部下拉设备。
仿真0引脚。当TRST被拉低， EMU0要高激活的关闭状态。当TRST
被驱动为高， EMU0被用作中断或从仿真器系统，并且被定义为输入/输出的方法
的IEEE标准1149.1扫描系统。 EMU0应拉至DV
DD
有独立的4.7 kΩ的电阻。
仿真器1针/关闭所有输出。当TRST被驱动为高， EMU1 /关被用作中断或从
仿真器系统，并且被定义为输入/输出通过IEEE标准1149.1的扫描系统的方法。当TRST
被拉低， EMU1 / OFF配置为OFF 。该EMU1 / OFF信号，当有效（低） ，将所有输出驱动器
进入高阻抗状态。 EMU1 /关应拉至DV
DD
有独立的4.7 kΩ的电阻。记
这关是专门用于测试和仿真的目的（不适用于多处理应用） 。因此，
为OFF功能，则按照以下规定：
TRST =低
EMU0 =高
EMU1 / OFF =低
TCK
I
TDI
I
TDO
O / Z
TMS
I
TRST
I
EMU0
I / O / Z
EMU1/OFF
I / O / Z
I =输入， O =输出， Z =高阻抗， S =电源
如果使用外部时钟源时， CLKIN信号电平不应超过简历
DD
+ 0.3 V.
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SPRS199B
2002年10月 - 修订2004年10月
