ADE7758
例如校准RMS偏移
ADE7758中断
ADE7758的中断是通过中断管理
状态寄存器（ STATUS [ 23：0] ，地址0x19符号）和中断
屏蔽寄存器（MASK [23： 0]，地址为0x18 ） 。当一个中断
事件发生在ADE7758 ，相应的标志在
中断状态寄存器被设置为逻辑1 （参见表20）。如果
屏蔽位该中断的中断屏蔽寄存器
逻辑1，则IRQ逻辑输出变为低电平。该标志位
在中断状态寄存器的状态设置无关
屏蔽位。以便确定中断源，所述
系统主控制器（MCU ）应复位执行读
中断状态寄存器复位。这是通过执行来实现
从RSTATUS读，地址0x1A的。该IRQ输出变为
逻辑高电平的中断状态寄存器读取完成
命令（见中断时序部分） 。携带时
用复位读， ADE7758的设计，以确保没有
中断事件被错过。如果中断事件发生时一样
中断状态寄存器被读时，事件不丢失
和IRQ逻辑输出保证逻辑高电平为
中断状态寄存器的数据传输时间之前
再次去低电平，表示待处理的中断。记
在状态寄存器中的复位中断位为高为仅
一个时钟周期;然后它返回到0 。
对于这个例子，
I
TEST
= 10 A,
I
最大
= 100 A,
V
喃
= 220 V,
V
满量程
= 500 V,
功率因数
= 1，并
频率
= 50赫兹。
同
I
TEST
和
V
喃
中，例如ADE7758电表显示
在AIRMS字符（0x0A ） 0x34266在注册和0x10B0A3
AVRMS符（0x0D ）寄存器。在我
MAX/500
时，例如，仪器显示
0x19F在AIRMS 。在V
NOM/20
时，例如仪表显示0xD65B
在AVRMS注册。这些都是20的平均值
采样同步的所有三个阶段的过零点。
使用此数据， -3d写入AVRMSOS （ 0x33 ）和-1004d
写入AIRMSOS （ 0x36数据）寄存器根据
公式56和公式57 。
XIRMSOS
=
1
×
16,384
(
10
2
×
415
2
)
–
(
0.2
2
×
213,606
2
)
=
1103.88
=
1104
(
0.2 – 10
2
)
XVRMSOS
=
1
(
220
×
54875
)
–
(
11
×
1,093,795
)
×
=
3.047
=
3
(
11 – 220
)
64
这个例子说明了计算和测量
A相而已。然而，所有这三个xIRMS和xVRMS寄存器
可以同时读出，以计算每个值
xIRMSOS和xVRMSOS注册。
使用本ADE7758中断，带一个MCU
图87显示了示出一个建议的时序图
使用实施ADE7758中断管理
MCU。在时间
t
1
， IRQ线变为低电平，表示
一个或多个中断事件都发生在ADE7758 。
该IRQ逻辑输出应连接到一个下降沿触发
外部中断的MCU。在检测到负的
边缘时，MCU应该被构造为开始执行其
中断服务例程（ISR） 。在进入中断服务程序中，所有
中断应该使用全局中断屏蔽被禁止
位。在这一点上，在MCU外部中断标志可以是
为了捕捉过程中发生的中断事件清零
当前ISR 。当MCU中断标志被清零，读
从复位中断状态寄存器复位时进行。
（这会导致IRQ线路被复位逻辑高（叔
2
） - 请参阅该
中断时序部分）复位中断状态寄存器
内容用于确定中断（多个）的源极和
因此，必须采取适当的行动。如果后续
在ISR （T中断事件发生
3
），该事件被记录
通过单片机的外部中断标志被重新设置。上
从ISR返回时，全局中断屏蔽位被清除
（同一指令周期）和外部中断标志使用
MCU跳转到它的ISR一次。这确保了在MCU
不会错过任何外部中断。在状态的复位位
寄存器是一个例外，而且是唯一的高一个时钟
复位事件后循环。
校验和寄存器
ADE7758中具有校验和寄存器CHECKSUM [ 7 ： 0 ]
（ 0x7E的），以保证在最后的串行读出接收到的数据位
操作不会损坏。 8位校验和寄存器
第一位前复位（寄存器的MSB要读取）放
DOUT引脚上。在串行读出操作中，当每个
在SCLK的上升沿数据位变为可用时，该位为
加入到校验寄存器。在串行读出结束
操作时，校验寄存器的内容等于
所有的人在登记册之和预读。使用
校验寄存器，用户能够确定是否出错有
最后一次读操作期间发生的。注意，读出到
校验和寄存器也产生校验的校验
注册自己。
寄存器的内容
（N字节）
校验
注册
DOUT
04443-0-049
地址： 0x7E的
图85.校验注册串行接口读取
版本A |第54页68
