位置：首页 > IC型号导航 > 首字符S型号页 > 首字符S的型号第793页 > SCANH162512SM > SCANH162512SM PDF资料 > SCANH162512SM PDF资料1第3页
SCAN16512
接线图
20026603
顶视图
见NS包装数SLC64A
真值表
功能表
（注1 ）
输入
OEAB
L
L
L
L
L
H
LEAB
L
L
L
H
H
X
CLKAB
L
↑
↑
输出
A
X
L
H
L
H
X
B
B
0
（注2 ）
L
H
L
H
Z
X
X
X
H =高电压等级
L =低电压等级
X =非物质（高或低，投入可能不会浮动）
Z =高阻抗
注1 ：
如图A到B的数据流。 B-到一个数据流相似，但使用OEBA ， LEBA和CLKBA 。
注2 ：
建立了表示稳态输入条件之前，输出电平。
功能说明
在正常模式中，这些设备都是16位通用总线
收发器相结合的D型锁存器和D型倒装
触发器允许在透明的数据流，闭锁或计时
模式。它们可以作为两个8位收发器，或作为
一个16位收发器。测试电路可通过激活
水龙头取出现在数据快照样本
该器件的引脚，或在边界测试执行自检
细胞。激活TAP可能会影响正常的功能
通用总线收发器的操作。当TAP是
激活时，测试电路进行边界扫描测试OP-
根据该协议操作在IEEE标准中描述
1149.1-1990.
在每个方向上的数据流由控制的输出使能
（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ） ，并
时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流中，
器件在透明模式下操作时LEAB高。
当LEAB为低时，所述的数据被锁存，而CLKAB被保持
在一个静态低或高逻辑电平。否则，如果LEAB低，
的数据被存储在由低到高CLKAB的过渡。当
OEAB为低电平时， B输出是活动的。当OEAB是
高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B-到-A
数据流类似于A至B数据流，而是使用OEBA ，
LEBA和CLKBA投入。
五个专用测试引脚用来观察和控制
测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据
输出（ TDO ） ，测试模式选择（ TMS ） ，测试时钟（ TCK ）和
测试复位（ TRST ） 。所有的测试和扫描操作是同步
chronized的TAP接口。
有关边界扫描单元中的顺序的信息
SCAN16512请参阅所述的BSDL （边界扫描
描述语言）文件可以在我们的网站上。
3
www.national.com
