ADT14
晶圆测试极限
参数
INPUTS置高，置低
输入偏置电流
输出VPTAT
温度精度
输出电压V
REF
面值
线路调整
负载调整率
集电极开路输出上方，下方
输出低电压
输出漏电流
电源
供应范围
电源电流
V
REF
（V + = + 5V ， GND = 0 V ，T
A
= +25 C除非另有说明）
符号
I
B
T
A
= + 25 ° C，无负载
T
A
= + 25 ° C，无负载
4.5 V
≤
V
≤
13.2 V
10
A ≤
IV
REF
≤
500
A
I
SINK
= 1.6毫安
2.490
条件
民
典型值
最大
70
1.5
2.510
±
0.08
±
0.25
0.4
100
4.5
卸载
5.5
600
单位
nA
°C
V
%/V
％ / mA的
V
A
V
A
V
OL
I
OH
V+
I
SY
记
电气测试在晶片探针进行到如图所示的范围。由于变化的组装和名义收益率的损失，包装后的产量不保证
标准产品的骰子。咨询工厂的基础上，通过大量的样本组装和测试大量的资质进行谈判的规格。
DICE特性
芯片尺寸0.069
×
0.080英寸， 5520平方密耳
(1.75
×
2.03毫米， 3.55平方毫米）
晶体管数量： 130
小心
ESD （静电放电）敏感器件。静电荷高达4000 V容易
积聚在人体和测试设备，可排出而不被发现。
虽然ADT14具有专用ESD保护电路，可能永久的损坏
发生在受到高能静电放电设备。因此，适当的ESD
预防措施建议，以避免性能下降或功能丧失。
警告！
ESD敏感器件
第0版
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