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ADN2819
选择输出交流耦合电容
交流耦合电容输入端的选择（ PIN ， NIN ）
和ADN2819的输出（ DATAOUTP ， DATAOUTN ）绝
被选择为使得该设备正常工作在较低的
的OC-3和更高的OC-48数据速率。当选择
电容器的时间常数形成有两个50 Ω电阻
在信号路径中必须加以考虑。当大量的
连续相同数字（ CID）的应用中，电容器
电压可由于基线漂移下降（参见图23） ，从而引起
图案相关抖动（ PDJ ） 。
为ADN2819到在两个OC-3和OC- 48 ，鲁棒地工作一
1.6 μF至PIN / NIN和0.1 μF的最小电容上
DATAOUTP / DATAOUTN应该被使用。这是基于
假设1000的CID必须容忍，而PDJ
应限制在0.01的UI峰 - 峰值。
V1
C
IN
ADN2819
V2
针
50
V
REF
C
OUT
DATAOUTP
CDR
C
OUT
DATAOUTN
+
LIMAMP
TIA
V1b
C
IN
V2b
NIN
50
1
V1
V1b
V2
V2b
V
差异
2
3
4
V
REF
VTH
V
差异
= V2- V2B
VTH = ADN2819 QUANTIZER门槛
笔记
1.在与高的跳变密度，差分直流电压数据模式， V1和V2为0 。
2.当TIA的输出到CID ， V1和V1B是不同的DC电平有效驱动。 V2和V2B排放到V
REF
的水平，
从而有效地引入了差分直流失调ACROSS AC耦合电容。
3.当数据串开始，差分直流偏移ACROSS交流耦合电容，用于输入电平，
造成直流转变差分输入。这种变化足够大，这样的国家之一，或高或低电平，取决于
V1和V1B水平时， TIA去CID是已取消OUT 。量化不会承认这是一个有效的状态。
4.直流偏移会缓慢释放UNTIL差分输入电压超过ADN2819的灵敏度。量化将
能够识别高，低国在这一点上。
基线漂移图25.示例
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