ADM1028
通用逻辑输入（ GPI ）
NAND树测试
销2被用作通用逻辑输入具有12伏电压的容
ANCE 。该GPI输入可以被编程为高有效或
低电平有效清除配置稳压或设置位6
存器。默认值是活性高。位在中断状态的4
寄存器如下GPI的状态（或倒置状态），将gen-
生一个中断时，它被设置为1时，象任何其他的输入到
中断状态寄存器。然而， GPI位不会被锁存
在状态寄存器中，始终反映当前状态（或
在GPI输入的反转状态） 。如果它是1，它不会被清除
通过读状态寄存器。
上电复位
一个NAND树在ADM1028的自动化测试提供
设备（ATE ）板级连接测试。该装置
放入NAND树测试模式，通过引脚上电
FAN_SPD / NTEST_IN （引脚8 ）保持高电平。该引脚进行采样
其在上电时的状态被锁存。如果它是连接高，那么
在NAND树测试模式被调用。 NAND树测试模式
仅当ADM1028断电退出。
在NAND树测试模式下，所有的数字输入可以作为测试
在表II中示出。
THERMA / NTEST_OUT
将成为
在NAND树输出引脚。
所述NAND树的结构示于图10为按照
形成NAND树测试，所有引脚都初始化驱动为低电平。该
测试向量集所有的输入为低电平，然后，一个接一个，他们切换
高（保持他们的高点） 。行使测试电路与此
“行走1 ”模式，从所述输入最接近
树的输出，骑车朝向最远，使输出
把树的切换与每个输入的变化。允许一个
500 ns的典型传播延迟。
POWER- ON
RESET
CLK
FAN_SPD /
NTEST_IN
D
LATCH
Q
启用
RST
AUXRST
GPI
SDA
SCL
当ADM1028通电时，它将启动一个上电
复位序列时，电源电压V
CC3AUX
上述上升
上电复位阈值时，寄存器复位到其
上电值。正常操作将开始供应时，
电压高于复位门限。寄存器的加电
上不显示值有电的条件是
不确定的（这包括价值和门限寄存器） 。在
大多数应用中，通常上电后，首先科幻动作会
是写限制进入的限制寄存器。
上电复位清零或初始化以下寄存器（中
初始化的值示于表III） ：
配置寄存器
中断状态寄存器
中断屏蔽寄存器
模拟量输出寄存器
可编程触发点寄存器
THERMA /
NTEST_OUT
该ADM1028还可以通过取重置
AUXRST
低的
输入。所有寄存器将重置为默认值，
ADC仍然无效，只要
AUXRST
低于
复位门限。服用
RST
引脚为低电平，将导致以下
寄存器被复位。
位的配置寄存器3 （可编程
THERM
限锁定位）
DAC输出，风扇转速
初始化（软复位）
图10. NAND树
配置中断
上电时，该设备的中断功能被禁用。
该CON组fi guration寄存器（ 0X40 ）必须写，为了
使中断输出。该
INT_ENABLE
位（第1位）的
该寄存器应设置为1 。
表II中。测试向量
软复位执行类似的但不相同的，功能
上电复位。它恢复电默认值到
配置寄存器，中断状态寄存器和
中断屏蔽寄存器。极限寄存器保持不变。
它会重置
INT
结构，但不是
THERM
结构。
软复位通过设置CON组fi guration的第4位完成
注册新高。该位被置位后自动清零。
与结算
INT ，
这里的温度必须在回落
对于前三个转换的设限
INT
功能
重新进入工作状态，软复位允许
INT
要立即拉低
后软复位。
RST
0
0
0
0
0
1
AUXRST
0
0
0
0
1
1
GPI
0
0
0
1
1
1
SDA
0
0
1
1
1
1
SCL
0
1
1
1
1
1
THERMA
1
0
1
0
1
0
–12–
REV 。一
