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FLEX 10K嵌入式可编程逻辑器件系列数据手册
通用测试
每个FLEX 10K器件功能测试。每一个完整的测试
可配置的SRAM位和所有的逻辑功能可确保100％的收益率。
AC测试测量FLEX 10K器件的条件下进行
等同于所示
图19 。
多个测试图案可以用来
在生产流程的各个阶段配置设备。
图19. FLEX 10K AC测试条件
电源瞬变影响交流
测量。同时转变
应避免对多个输出
精确的测量。阈值测试必须
不能交流的条件下进行。
大振幅，快速地电流
瞬变通常发生作为设备
输出放电负载电容。
当这些瞬变溢流通过
器件之间的寄生电感
接地引脚和测试系统接地，
显着的减少，可观察到的噪音
免疫力的原因。无数字
括号内为5.0 -V的设备或输出。
括号中的数字是3.3 - V器件
或输出。括号内的数字是
2.5 -V的设备或输出。
VCC
464
(703
)
[521
]
设备
产量
为了测试
系统
250
(8.06 k)
[481
]
输入设备
上升和下降
倍< 3纳秒
C1 （包括
夹具电容）
操作
条件
表17
通过
21
提供绝对最大额定值的详细信息，
推荐的工作条件下，直流工作条件，并
电容的5.0 -V FLEX 10K器件。
注（1）
民
–2.0
–2.0
–25
无偏置
在偏置
陶瓷封装，下偏差
PQFP ， TQFP ， RQFP和BGA
包，下偏差
–65
–65
表17. FLEX 10K 5.0 - V器件的绝对最大额定值
符号
V
CC
V
I
I
OUT
T
英镑
T
AMB
T
J
参数
电源电压
直流输入电压
直流输出电流，每个引脚
储存温度
环境温度
结温
条件
相对于地面
(2)
最大
7.0
7.0
25
150
135
150
135
单位
V
V
mA
°C
°C
°C
°C
44
Altera公司。
