ADXL375
触发模式
在触发模式， FIFO缓冲器累积样品，存储
最新的32个样品从测量的x轴，y ，和z轴。
触发事件发生后，中断被发送到INT1或
INT2引脚（由FIFO_CTL寄存器的触发位） ，
和FIFO_TRIG位（ D7位）设置在FIFO_STATUS设置
寄存器（地址0x39 ） 。
FIFO缓冲区保持最后n个样本（n为指定的值
通过在FIFO_CTL寄存器中的采样数位） ，然后操作
在FIFO模式下，采集新样本的FIFO缓冲器，只有当
没有满。至少5微秒的延迟必须occur-相隔
触发事件和数据的起始的伦斯从回读
FIFO缓冲器，以允许缓冲器丢弃和保留必要的
样品。
其他触发事件不能被识别，直到部分
复位触发模式。要重置的一部分触发模式，
1.
如果需要的话，从FIFO读取缓冲区中的数据（参见检索
从FIFO缓冲区部分数据） 。
复位前，部分触发模式，读回
FIFO中的数据;将器件置于旁路模式清除
FIFO缓冲器。
通过设置位配置设备的旁路模式[ D7 ： D6 ]
在地址0x38到00 。
通过设置位将设备配置为触发方式[ D7 ： D6 ]
在地址0x38 11 。
数据表
当以1.6兆赫的频率使能SPI操作或
下，发送的寄存器寻址部分提供
足够长的延迟，以保证FIFO缓冲器具有完全
清空。当在一个较高的频率允许SPI操作
超过1.6 MHz时， CS引脚必须被拉高，以确保总
延时5 s内;否则，该延迟是不充分的。当SPI
操作在5MHz被使能，所需的总延迟是在
大多数3.4微秒。
当我
2
C模式是在部分启用，通信速率
足够低，以确保有足够的延迟之间的FIFO中读取。
自检
该
ADXL375
有效地整合了自检功能
同时测试其机械和电子系统。当
自检功能被使能（通过在该SELF_TEST位
DATA_FORMAT寄存器，地址0x31 ） ，静电力
施加在机械传感器。
此静电力移动的机械传感元件
同样地加速，并且它是可加至所述外部
加速度所经历的装置。这增加了静电
力导致在x轴，y的输出的变化，和z轴。因为
静电作用力正比于V
S2
时，输出变化
随V
S
.
在x轴和y轴的自测试响应表现出双峰
行为，因此，并不总是可靠指标
传感器的健康或设备的灵敏度电位漂移。为了这
因此，执行中的z轴的自测试的检查。
使用的自测试功能的小于100赫兹或数据速率在
1600赫兹可以在图16所示的限制外，得到的值。
为自检功能正常运行，该部分必须在
正常功率运行（ LOW_POWER位= 0在BW_RATE
寄存器，地址0x2C）设置，并用于从数据速率进行配置
100赫兹至800赫兹，或为3200 Hz的数据速率（见表6）。
有关自检功能的详细信息，请参阅使用
自检部分。
2.
3.
从FIFO缓冲区检索数据
当FIFO缓冲区工作在FIFO ，流或触发模式，
FIFO中的数据可以从数据寄存器（地址0x32至读
地址0x37符号） 。每次把数据从FIFO缓冲器读出，则
最古老的x轴，y轴和z轴的数据被移动到数据X ， DATAY ，
和DATAZ寄存器。
如果一个单字节读取执行的操作，剩余的字节
对于当前的FIFO采样数据的丢失。因此，数据
所有感兴趣的轴必须读在一阵（多字节）读
操作。以保证FIFO缓冲器是空的（即，所有
新的数据移入数据寄存器）中，以一定间隔
至少5微秒必须从回读的末端相隔
数据寄存器和数据寄存器新的读取的开始或
在FIFO_STATUS寄存器（地址0x39 ） 。一读结束
从数据寄存器中的操作是由过渡所指
从寄存器0x37至寄存器0x38或CS引脚变为高电平。
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