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UC2825A-EP
SGLS305D - 2005年7月 - 修订2010年9月
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这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理
适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序，可以造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精密集成电路可能会更
容易受到伤害，因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布的规格。
订购信息
T
A
-40_C到125_C
-55 ° C至125°C
(1)
包
(1)
SOIC - DW
SOIC - DW
订购型号
UC2825AQDWREP
UC2825AMDWREP
顶部端标记
UC2825AQEP
UC2825AMEP
包装图纸，标准包装数量，热数据，符号和PCB设计
准则可在www.ti.com/sc/package 。
框图
CLK / LEB 4
RT 5
OSC
CT 6
RAMP 7
EAOUT 3
NI
2
E / A
INV 1
1.25 V
(60%)
13 VC
11 OUTA
R
SD
PWM
LATCH
T
14 OUTB
12 PGND
9 A
PWM比较器
SOFT -ST ART COMPLETE
SS 8
ILIM 9
1.2 V
0.2 V
VCC 15
9.2V/8.4V
GND 10
重新开始
延迟
当前
极限
1.0 V
过电流
SD
R
故障锁存器
UVLO
VREF
5.1 V
开/关
国内
BIAS
V
REF
良好
16 5.1 VREF
UDG-02091
5V
重新开始
延迟
LATCH
S
R
250 A
4V
2
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UC2825A-EP
2005-2010 ，德州仪器
