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SN54BCT8245A ， SN74BCT8245A
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS043E - 1990年5月 - 修订1996年7月
测试结构
串行测试信息通过4线测试总线，或点击的方式传达，符合IEEE标准
1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该
TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取
同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上
对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。
TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿，并
在TCK的下降沿输出数据的变化。此方案确保数据被捕获的有效期为充分
二分之一的TCK时钟周期。
该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描
体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，该
器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 18位边界扫描寄存器，
2位的边界控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
选择DR扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
更新DR
TMS = H
TMS = L
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
图1. TAP控制器状态图
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
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