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SMJ320F240
DSP控制器
SGUS029C - 1999年4月 - 修订2004年9月
终端功能（续）
终奌站
名字
号
CV
SS
8
3
14
20
29
46
59
61
71
92
104
113
120
87
2
13
21
47
62
93
103
121
7
60
84
85
86
TYPE
信号提供
I
数字化的核心逻辑接地参考
描述
V
SS
I
数字逻辑接地参考
V
SSA
I
模拟地参考
DV
DD
（见注1 ）
I
数字I / O逻辑电源电压
s PPL oltage
CV
DD
（见注1 ）
I
I
I
I
数字内核逻辑电源电压
s PPL oltage
模拟电源电压
ADC的模拟基准电压高
ADC的模拟基准电压低
测试信号
IEEE标准测试时钟。 TCK是通常具有50 ％占空比的自由运行的时钟信号。变化
在测试访问端口（ TAP ）的输入信号（ TMS和TDI ）被移入TAP控制器，指令
注册或C2XX核心在TCK的上升沿选择的测试数据寄存器。在TAP变化
输出信号（ TDO ）发生在TCK的下降沿。
IEEE标准测试数据输入（TDI） 。 TDI移入一个选择寄存器（指令或数据）
TCK上升边缘。
IEEE标准测试数据输出（ TDO） 。所选择的寄存器的内容（指令或数据）是
移出TDO在TCK的下降沿。 TDO处于高阻抗状态时，关闭被激活
低。
IEEE标准测试模式选择。该系列控制输入移入的上升TAP控制器
TCK的边缘。
V
CCA
V
REFHI
V
REFLO
TCK
30
I
TDI
TDO
TMS
31
34
33
I
O / Z
I
I =输入， O =输出， Z =高阻抗
注1 ： V
DD
是指电源电压类型的CV
DD
（数字内核电源电压） ， DV
DD
（数字I / O电源电压） ，和V
DDP
（编程电压
供给） 。所有电压都相对于V
SS
.
8
邮政信箱1443
休斯敦，得克萨斯州77251--1443
