恩智浦半导体
74HC32 ; 74HCT32
四2输入或门
V
I
负
脉冲
GND
t
W
90 %
V
M
10 %
t
f
t
r
t
r
t
f
90 %
V
M
10 %
t
W
V
CC
G
VI
VO
V
M
V
I
积极
脉冲
GND
V
M
DUT
RT
CL
001aah768
测试数据列于
表9 。
德网络nitions测试电路：
R
T
=端接电阻应等于输出阻抗Z
o
的脉冲发生器。
C
L
=负载电容包括夹具和探头电容。
图7 。
表9 。
TYPE
74HC32
74HCT32
负载电路，用于测量开关时间
测试数据
输入
V
I
V
CC
3.0 V
t
r
, t
f
6.0纳秒
6.0纳秒
负载
C
L
15 PF， 50 pF的
15 PF， 50 pF的
t
PLH
, t
PHL
t
PLH
, t
PHL
TEST
74HC_HCT32
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启5 - 2012年9月4日
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