电气特性
- 意外复位
- 关键数据损坏（控制寄存器... ）
资格预审试验
Most
常见故障（意外复位，程序计数器腐败）可
通过手动强制的复位引脚或振荡器引脚1秒低电平状态再现。
要完成这些试验， ESD应力可以直接在设备上使用。当检测到异常行为时，
软件可以被硬化，以防止发生不可恢复的错误。
4.11.2
电磁干扰（ EMI）的
该产品是在发射的基于典型的应用方面进行监测。这个排放测试符合IEC61967-1
标准，该标准规定了EMI测量的一般条件。
表33. EMI辐射发射测量
1,2
价值
符号
—
f
中央处理器
C
参数
条件
民
SR - 扫描范围
SR - 工作频率
—
—
—
V
DD
= 5 V ，T
A
= 25 °C,
LQFP144封装
测试符合IEC
61967-2,
f
OSC
= 8兆赫/女
中央处理器
=
64兆赫
无PLL频率
调制
±2％的PLL频率
调制
0.150
—
—
—
—
64
1.28
—
—
典型值
最大
1000兆赫
—
—
18
14
兆赫
V
dBμV的
dBμV的
单位
V
DD_LV
SR - 低压工作电压
S
EMI
CC T波顶点水平
1
2
EMI测试，I / O端口，符合IEC 61967-1 ， -2波形， -4
对传导发射和磁化率测量（标准IEC 61967-4 ）的信息，请联系您
当地销售代表。
4.11.3
绝对最大额定值（电子灵敏度）
基于使用特定的计量方法两种不同试验（ ESD和LU） ，该产品是强调，以确定
其中的电灵敏度方面的性能。
4.11.3.1
静电放电（ ESD ）
静电放电（正则一个负脉冲以1秒分开）被施加到每个样品的所述的销
各引脚的组合。样本大小取决于电源引脚的器件（3 parts第（n + 1）电源引脚）的数目。这
测试符合AEC - Q100-002 / -003 / -011标准。
MPC5607B单片机数据手册，第6
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飞思卡尔半导体公司
