修订历史
表51.修订历史（续）
调整
6
（续）
日期
实质性的改变
2011年7月8日节“外部限流电阻的建议” ：改为“低电压显示器”
“低电压检测（ LVD ） ”
“ I / O输入DC电气特性”表中：我更新
LKG
特征
“中等配置的输出缓冲器电气特性”表：改变
“I
OH
= 100 μA “到”我
OL
= 100 V μA “
OL
条件
I / O重量：更新表（包括更换位“上置”与“ SRC ”实例）
“复位特性”表：更新后的参数分类| I
WPU
|
更新稳压器电气特性
部分“低电压检测器电气特性” ：改变标题（就是“电压
监控电气特性“） ;改变“，以及四低电压检测器”来
“以及5个低电压检测器” ;在RGM发现添加的事件状态标志名
器件的参考手册，以POR模块和LVD描述篇章;更换
“低电压监测仪”与“低电压检测器”的实例;对于更新后的值
V
LVDLVBKPL
和V
LVDLVCORL
更新了部分“权力消费”
部分“编程/擦除特性” ：去掉表“ FLASH_BIU设置与
频率操作“及相关介绍
“编程和擦除规范”表：更新符号
PFCRn设置与操作频率：表取代“ FLASH_BIU ”与“ PFCRn ”
称号;更新的字段名和频率
“闪直流电源电气特性”表：删除脚注2
晶体振荡器和谐振器连接方式：约可能插入脚注
需要串联电阻
快速的外部晶体振荡器（ 4 16 MHz）的电气特性：更新后的参数
分类V
FXOSCOP
慢速外部晶体振荡器（ 32 kHz）的电气特性：更新脚注1
节“ADC电气特性” ：失调误差和增益误差的符号更新
部分“输入阻抗和ADC的精度” ：改变“V
A
/V
A2
“到”V
A2
/V
A
“在
11式
ADC输入漏电流：更新我
LKG
特征
ADC_0转换特性表：换下实例
“ ADCx_conf_sample_input ”与“ INPSAMP ” ;取而代之的实例
“ ADCx_conf_comp ”与“ INPCMP
ADC_1特点和错误的定义：改为“ AVDD ”与“V
DD_ADC
”
ADC_1转换特性表：换下实例
“ ADCx_conf_sample_input ”与“ INPSAMP ” ;取而代之的实例
“ ADCx_conf_comp ”与“ INPCMP ”
更新了“片上外设电流消耗”表
MPC5607B单片机数据手册，第6
飞思卡尔半导体公司
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