电气特性
表34. ESD绝对最大额定值
1,2
符号
评级
条件
T
A
= 25 °C
符合AEC- Q100-002
T
A
= 25 °C
符合AEC- Q100-003
T
A
= 25 °C
符合AEC- Q100-011
类
H1C
M2
C3A
最大值
3
2000
200
500
750 （角落）
单位
V
V
静电放电（ HBM）的
静电放电电压
（人体模型）
V
静电放电（MM）的
静电放电电压
（机器型号）
V
静电放电（CDM）的
静电放电电压
（带电器件模型）
1
2
3
所有的ESD测试符合CDF- AEC -Q100应力测试标准的汽车级集成
电路。
一种设备将是德网络定义为一个失败，如果暴露在ESD脉冲后，该设备不再符合设备
规范要求。完整的直流参数测试和功能测试应按照适用进行
在室温下的器件规格，随后用热水的温度，除非在设备中指定，否则
特定连接的阳离子。
根据表征结果的数据，而不是在生产测试
4.11.3.2
静态闩锁（LU）
两个互补的静态测试是必需的六个部分，以评估闭锁性能：
的供给过电压被施加到每个电源引脚。
电流注入应用到每个输入，输出和可配置的I / O引脚。
表35.闭锁结果
符号
LU
参数
静态闩锁类
条件
T
A
=
125 °C
符合JESD 78
类
II A级
这些测试都符合EIA / JESD 78 IC闭锁的标准。
4.12
快速的外部晶体振荡器（ 4 16 MHz）的电
特征
该器件提供了一个振荡器/驱动器。
图11
描述的内部振荡器驱动一个简单的模型，并
提供了一种用于振荡器或谐振器的连接的一个例子。
表36
提供了用于设计模拟4 MHz至16 MHz的晶体的参数说明。
MPC5607B单片机数据手册，第6
飞思卡尔半导体公司
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