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28F200B5 ， 28F004 / 400B5 ， 28F800B5
注意事项：
1.所有电流都在RMS中，除非另有说明。在V典型值
CC
= 5.0 V ， T = 25 ℃。这些电流适用于所有
产品版本（封装和速度） 。
2. I
CCES
指定与取消选择该设备。如果该装置被读取，而在擦除挂起模式，电流消耗的总和
I
CCES
我
CCR
.
3块擦除和字/字节编程操作被禁止，当V
PP
= V
PPLK
而不是在两者之间的范围内保证
V
PPH
1和V
PPLK
.
4.采样，而不是100 ％测试。
5.自动省电（ APS ），减少了I
CCR
至小于1mA典型，在静态运行。
6. CMOS输入或者是V
CC
± 0.2 V或GND ± 0.2 V. TTL输入，要么是V
IL
或V
IH
.
E
0599-10
3.0
输入
0.0
注意：
AC测试输入被驱动为3.0 V为逻辑“1 ”和0.0V，为逻辑“ 0 ”输入定时开始，并输出定时结束时，在1.5V。
输入上升和下降时间（ 10 ％至90 ％） <10纳秒。
1.5
测试点
1.5
产量
图11.高速测试波形
2.4
输入
0.45
2.0
测试点
0.8
2.0
产量
0.8
0599-11
注意：
AC测试输入驱动在V
OH
(2.4 V
TTL
）为逻辑“1”和第五
OL
(0.45 V
TTL
）为逻辑“0”的输入定时开始在V
IH
(2.0 V
TTL
）和V
IL
(0.8 V
TTL
） 。在V输出时序结束
IH
和V
IL
。输入上升和下降时间（ 10 ％至90 ％ ）小于10纳秒。
图12.标准测试波形
32
初步
