位置：首页 > IC型号导航 > 首字符B型号页 > 首字符B的型号第357页 > BQ76PL536A-Q1 > BQ76PL536A-Q1 PDF资料 > BQ76PL536A-Q1 PDF资料1第46页
bq76PL536A-Q1
SLUSAM3
–
2011年5月
www.ti.com
CONFIG_CUVT寄存器（ ×45 ）
7
微秒/毫秒
6
–
5
–
4
CUVD[4]
3
CUVD[3]
2
CUVD[2]
1
CUVD[1]
0
CUVD[0]
该CONFIG_CUVT寄存器决定电池过压检测延迟时间。
[7]（微秒/毫秒）：
确定的延迟时间的单位，微秒或毫秒
0 =微秒
1 =毫秒
[ 4..0 ] CUVD ：
0×01 = 100 ;每个二进制增量增加100 ，直到把0x1F = 3100 。
注意：
当该寄存器编程为0x00 ，延迟变成0和CUV状态
是不是锁在CUV_FAULT []寄存器。在这种操作模式下，该过电压
状态的细胞是在CUV_FAULT []寄存器几乎瞬间。此模式可
导致系统固件错过一个危险的电池欠压状态。
CONFIG_OT寄存器（ 0×46 ）
7
OT2[3]
6
OT2[2]
5
OT2[1]
4
OT2[0]
3
OT1[3]
2
OT1[2]
1
OT1[1]
0
OT1[0]
该CONFIG_OT寄存器保存过热阈值两个TS输入的配置。
对于每个相应的半字节（ OT1或OT2 ） ，该值为0x0，禁用此功能。其他设置编程之旅
门槛。见
比例式传感
部分，用于设置该寄存器的细节。以上0x0B中的值是非法的
并且不应该被使用。
CONFIG_OTT寄存器（ 0X47 ）
7
COTD[7]
6
COTD[6]
5
COTD[5]
4
COTD[4]
3
COTD[3]
2
COTD[2]
1
COTD[1]
0
COTD[0]
该CONFIG_OTT寄存器决定电池过热检测延迟时间。
0×01 = 10毫秒;每个二进制增量增加了10毫秒，直到为0xFF = 2.56秒。
注意：当该寄存器编程为0x00 ，延迟变0和OT状态不
锁存在ALERT_STATUS []寄存器。在这种操作模式下，过热状态
对TSN一个输入寄存器几乎瞬间。这种模式可能会导致系统
固件错过一个危险的过热状态。
USERx寄存器（ 0x48-0x4b ） （ USER1-4 ）
7
USER[7]
6
USER[6]
5
USER[5]
4
USER[4]
3
USER[3]
2
USER[2]
1
USER[1]
0
USER[0]
四个用户寄存器可以用于存储用户数据。该器件不使用这些寄存器的任何内部
功能。它们被提供为方便存储用户的S / N ，制造日期等。
46
提交文档反馈
产品文件夹链接（ S） ：
bq76PL536A-Q1
版权
2011年，德州仪器
