bq24133
www.ti.com
SLUSAF7B
–
2010年12月
–
经修订的2011年5月
电气特性（续）
4.5V
≤
V（ PVCC ， AVCC ）
≤
17V,
-40°C <
T
J
+ 125°C ，典型值是在T
A
= 25 ° C，相对于AGND （除非另有
说明）
参数
BAT过电压比较器
V
OV_RISE
V
OV_FALL
过压阈值上升
过压阈值下降
由于V百分比
BAT_REG
由于V百分比
SRN
104%
102%
测试条件
民
典型值
最大
单位
输入过压比较器（ ACOV ）
V
ACOV
V
ACOV_HYS
t
ACOV_RISE_DEG
t
ACOV_FALL_DEG
交流过电压上升阈值转
关闭ACFET
交流过电压下降滞后
交流过电压上升尖峰脉冲关闭
ACFET和禁用费
交流过电压下降尖峰脉冲来开启
ACFET
OVPSET上升
OVPSET下降
OVPSET上升
OVPSET下降
1.55
1.6
50
1
30
1.65
V
mV
s
ms
输入欠压比较器（ ACUV ）
V
ACUV
V
ACUV_HYS
t
ACOV_FALL_DEG
t
ACOV_RISE_DEG
AC欠压阈值下降转
关闭ACFET
AC欠压滞后上升
AC欠压下降尖峰脉冲开启
关闭ACFET和禁用费
OVPSET下降
OVPSET上升
OVPSET下降
0.45
0.5
100
1
30
0.55
V
mV
s
ms
AC欠压上升尖峰脉冲开启
OVPSET上升
ACFET
热调节
T
j_reg
T
关闭
T
SHUT_HYS
t
SHUT_RISE_DEG
t
SHUT_FALL_DEG
结点温度调节精度
ISET
＆ GT ;
为120mV ，充电
120
°C
热关断比较
热关断温度上升
热关断迟滞
热关断尖峰脉冲上升
热关断尖峰脉冲下降
升温
降温
升温
降温
150
20
100
10
°C
°C
s
ms
热敏电阻比较
V
LTF
V
LTF_HYS
V
HTF
V
TCO
t
TS_CHG_SUS
t
TS_CHG_RESUME
寒冷的温度阈值， TS引脚
电压阈值上升
寒冷的温度迟滞， TS引脚
电压降
热温TS引脚电压崛起
门槛
截止温度TS引脚电压下降
门槛
抗尖峰脉冲时间，温度超出范围
发现
抗尖峰脉冲时间，温度有效
检测范围
充电器会暂停充电。至于百分比
V
VREF
至于百分比V
VREF
至于百分比V
VREF
至于百分比V
VREF
V
TS
＆ GT ;
V
LTF
或V
TS
＆ LT ;
V
TCO
或
V
TS
＆ LT ;
V
HTF
V
TS
＆ LT ;
V
LTF
–
V
LTF_HYS
或V
TS
＆ GT ; V
TCO
或V
TS
＆ GT ;
V
HTF
72.5%
0.2%
46.6%
44.2%
73.5%
0.4%
47.2%
44.7%
20
400
74.5%
0.6%
48.8%
45.2%
ms
ms
充电过流比较器（逐周期）
V
OCP_CHRG
V
OCP_MIN
V
OCP_MAX
I
OCP_HSFET
V
UCP
充电过流阈值上升，
V
SRP
>2.2V
充电过电流限制最小，V
SRP
<2.2V
充电过电流限制最大值，V
SRP
>2.2V
在HSFET电流限制
电流快速充电电流的百分比
测量V
SRP- SRN
测量V
SRP- SRN
衡量HSFET
6
160%
45
75
mV
mV
HSFET过流比较（逐周期）
A
下充电，电流比较器（逐周期）
在充电电流下降阈值
衡量V
（ SRP - SRN ）
1
5
9
mV
版权
2010-2011年，德州仪器
提交文档反馈
产品文件夹链接（ S） ：
bq24133
9
