3.2
3.2.1
OTP阵锁定和CRC校验
工厂编程OTP阵锁定和CRC校验
出厂前编程OTP阵列与一个3位的CRC校验错误。 CRC校验是只有当使能
工厂编程的OTP阵列被锁及锁是否是活动的。只有在自动OTP读取锁是活跃在其中
内部锁定位被读作“1” 。 POR或DSI清除命令只接收后自动OTP读数发生。
镜中的寄存器锁定位值
自动读出后
不适用
0
1
在熔丝阵列厂锁定位值
0
1
1
锁定位有效？
NO
NO
是的
CRC VERI科幻阳离子
启用？
NO
NO
是的
出厂前编程OTP阵列是由飞思卡尔锁定，上电复位后总是会被激活。在CRC是不断
计算在工厂编程OTP阵列，其中包括下列寄存器：
注册名称
序列号寄存器
类型寄存器
工厂可编程器件配置位
工厂OTP阵列CRC
工厂OTP阵锁定位
注册地址
SN0 ， SN1 ， SN2 ， SN3
式[5：0 ]
内部寄存器映射
CRC_F [2 ：0]的
LOCK_F
在工厂CRC包括在内呢？
是的
是的
是的
No
No
位在右送入左（低位在前） ，和从上到下（低位地址在前）中的寄存器映射。 CRC校验
使用的克（x）的= X的生成多项式
3
+ X + 1 ，具有种子值=' 111 ' 。所计算的CRC进行比较的
CRC_F [2 ：0]位。如果CRC不匹配，内部数据错误设置和设备响应DSI消息，因为光谱
后指定的
第4.3节。
CRC校验完成对内存寄存器，保存熔丝阵列值的副本，而不是
保险丝数组值。
3.2.2
用户可编程OTP阵列锁定和CRC校验
用户可编程OTP阵列独立核实的有3位CRC错误。 CRC校验时，才会启用
当用户可编程的OTP阵列被锁定，并且锁是否是活动的。只有在自动OTP读取锁是活动
其中LOCK_U位被读作“1” 。 POR或DSI清除命令只接收后自动OTP读数发生。
镜中的寄存器锁定位值
自动读出后
不适用
0
1
在熔丝阵列厂锁定位值
0
1
1
锁定位有效？
NO
NO
是的
CRC VERI科幻阳离子
启用？
NO
NO
是的
一旦LOCK_U位被激活，则CRC进行连续计算在用户可编程的OTP阵列，其包括
下面列出的寄存器：
注册名称
类型寄存器
设备ID位
用户数据寄存器0
属性位
PCM位
保留位
设备地址
用户数据寄存器1 - 8
用户可编程OTP阵列CRC
用户可编程OTP阵列锁定位
注册地址
式[7：6 ]
DEVCFG [7] ： 1
DEVCFG1 [7： 2]： UD00 [5：0 ]
DEVCFG1 [1： 0]： AT_OTP [1 ：0]的
DEVCFG2 [5]： PCM
DEVCFG2[4]
DEVCFG2 [3： 0]： ADDR [ 3：0]
UD01 - UD08
DEVCFG [2： 0]： CRC_U [2 ：0]的
DEVCFG2 [7] ： LOCK_U
在用户CRC包括在内呢？
是的
是的
是的
是的
是的
是的
是的
是的
No
No
位在右送入左（低位在前） ，和从上到下（低位地址在前）中的寄存器映射。 CRC校验
使用的克（x）的= X的生成多项式
3
+ X + 1 ，具有种子值=' 111 ' 。所计算的CRC进行比较的用户
编程的CRC ， CRC_U [2：0 ] ，其也被包括在用户可编程的阵列中。如果CRC不匹配，一个IN-
ternal数据错误被置位，并且所述设备响应的DSI消息中指定的
第4.3节。
CRC校验完毕
在存储器的寄存器，保持所述熔丝阵列值的副本，而不是熔丝阵列值。写入用户可编程
使用OTP阵列写入NVM命令将更新镜像的寄存器，从而导致更改的CRC计算考虑以下各项
少LOCK_U位的状态。如果LOCK_U位有效的CRC不匹配才会被检测到。
MMA16xxNKW
传感器
飞思卡尔半导体公司
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