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SBAS483F - 2009年11月 - 修订2010年10月
时序特性
Dn_Dn + 1_P
逻辑0
V
ODL
Dn_Dn + 1_M
V
OCM
逻辑1
V
ODH
GND
( 1 )随着外部100Ω端接。
图3. LVDS输出电压电平
时序要求: LVDS和CMOS模式
(1)
典型值为+ 25 ° C, AVDD = 1.8V , DRVDD = 1.8V ,采样频率= 250 MSPS ,正弦波输入时钟,
C
负载
= 5pF的
(2)
和R
负载
= 100Ω
(3)
中,除非另有说明。最小值和最大值是在整个温度
范围:T已
= -40°C至T
最大
= + 85°C , AVDD = 1.8V ,和DRVDD = 1.7V至1.9V 。
参数
t
A
孔径延迟
光圈的变化
延迟
t
J
孔径抖动
时间到有效数据出来STANDBY后
模式
时间到有效数据出来PDN GLOBAL后
模式
低延时模式(默认复位后)
ADC延迟
(4)
低延时模式下被禁用(启用增益,偏移
修正禁用)
低延时模式下被禁用(增益和偏移
修正启用)
DDR LVDS模式
(5) (6)
t
SU
t
H
t
PDI
数据建立时间
(3)
数据保持时间
(3)
时钟传播
延迟
吨的变化
PDI
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
(7)
数据有效
(7)
到零交叉CLKOUTP的
CLKOUTP到数据的过零变
无效
(7)
输入时钟上升缘跨接至输出时钟
上升沿交叉
1MSPS
采样频率
250MSPS
在相同温度下的两个设备之间
DRVDD电源
0.75
0.35
3
1.1
0.6
4.2
±0.6
5.4
ns
ns
ns
ns
在相同温度下的两个设备之间
DRVDD电源
条件
0.6
典型值
0.8
±100
100
5
100
10
16
17
25
500
最大
1.2
单位
ns
ps
f
S
RMS
s
s
时钟
周期
时钟
周期
时钟
周期
唤醒时间
都确保了设计和特性的时序参数,但不生产测试。
C
负载
为每个输出端子和地之间的有效外部单端的负载电容。
R
负载
是LVDS的输出对之间的差是负载电阻。
在更高的频率,叔
PDI
大于一个时钟周期和总体等待时间= ADC延迟+1 。
测量完成后用100Ω特征阻抗的设备和负载之间的传输线。建立和保持
时间的规范考虑抖动对输出数据和时钟的效果。
LVDS的定时是不变的低延迟禁用和启用。
数据有效指的是1.26V的逻辑高和0.54V的一个逻辑低电平。
版权所有2009-2010,德州仪器
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