HSP3824
用于将ADC的参考accommo-程序
日期的各种输入信号的电压电平用于设置参考
电压，以使ADC校准电路是工作在
一半的规模。这使得调整的最大金额
房间的电路容差。
图8示出了所建议的接口CON组fi guration为
ADC和参考电路。
I
0.01F
Q
3.9K
2V
8.2K
0.01F
V
REFN
0.01F
9.1K
HSP3824
0.01F
V
REFP
Q
IN
I
IN
表3. ADC校准
CR 1
位0
0
0
1
1
CR 1
第1位
0
1
0
1
ADC的校准电路
CON组fi guration
自动实时调整的参考。
参考设置在中间刻度。
在最近的参考价值举行。
参考设置在中间刻度。
RSSI ADC接口
的接收信号强度指示（ RSSI）的模拟信号是
接收到的输入，以一个6比特的ADC ，说明64个离散水平
信号强度。此ADC测量的直流电压，因此，其输入
必须是直流耦合。引脚16 （V
REFP
）设置为参考
RSSI ADC转换器。 V
REFP
是很常见的I和Q和
RSSI的ADC 。 RSSI信号被用作输入到亲
的可编程空闲信道评估算法
HSP3824 。 RSSI的ADC的输出被存储在一个8位寄存器
（ CR10 ），并且它以符号速率更新用于通过所述接入
外部处理器来协助网络管理。
该接口特定网络阳离子的RSSI ADC都列在
下文表4 （Ⅴ
REFP
= 1.75V).
表4. RSSI ADC规格
参数
满量程输入电压
输入带宽（ 0.5分贝）
输入电容
输入阻抗（ DC ）
民
-
1MHz
-
1M
典型值
-
-
7pF
-
最大
1.15
-
-
-
图8. INTERFACES
ADC的校准电路和寄存器
ADC的补偿或校准电路被设计为
通过main-优化ADC性能的I和Q输入
泰宁输出的完整的3位分辨率。有两种
寄存器（ CR 11 AD_CAL_POS和CR 12 AD_CAL_NEG ）
设置该参数为内部I和Q ADC的校准
电路。
I和Q的ADC输出由ADC监视校准
化电路，如果任一具有满量程值，一个24位的精确
mulator递增为德网络通过参数定义
AD_CAL_POS 。如果没有具有全量程值，把累加器
荡器减为德网络通过参数定义
AD_CAL_NEG 。
环路增益降低是通过仅使用5实现
个MSB出了24位的驱动一个D / A转换器，其调整
ADC的参考。补偿调整
在2kHz的速率为2 Mbps操作更新。该ADC卡利
bration电路仅用于去除缓慢组件
的变化。
值的从两个寄存器CR11的比率和
CR12设定的概率，无论是I或Q的ADC转换器
将处于饱和。概率由设置
（ AD_CAL_POS ）/（ AD_CAL_NEG ） 。
这还设置了级别，以便与任何噪音运行
或DPSK是近似相同的。据推测，在
射频和中频接收机的部分具有足够的增益以
造成热噪声限制。这将保持水平
ADC的大致相同，无论是否信号
存在或不存在。
ADC的校准电压时自动保持
在传输半双工操作。
ADC的校准电路的操作可德网络连接，通过定义
CR 1 ，位1和位0。表3示出了可能的
精读网络gurations 。
测试端口
该HSP3824提供访问数的能力
通过测试端口内部的信号和/或数据，标签测试
0-7 。除了销1（ TEST_CK ）是一个输出时钟可以
可配合使用从测试的数据来
端口输出。测试端口通过CON连接gu-编程
日粮寄存器（ CR5 ） 。
有分配给该PRISM测试端口9的测试模式
在测试模式如表5所示。
表5.测试模块
模式
0
1
2
3
4
5
6
7
描述
正常
手术
相关测试
模式
频率测试
模式
第一阶段测试
模式
NCO测试模式
SQ测试模式
位同步测试
模式1
位同步测试
模式2
TEST_CLK
TXCLK
TXCLK
DCLK
DCLK
DCLK
LoadSQ
RXCLK
LoadSQ
TEST （ 7 ： 0 ）
CRS ， ED ， “000” ，初始
检测，保留（ 1 ： 0 ）
弹匣（ 7：0 ）
FRQ注册（ 7 ： 0 ）
阶段（ 7：0 ）
NCO相位ACCUM注册
SQ2 （ 15 ： 8 ）相
方差
位同步ACCUM （ 7 ： 0 ）
SQ （ 14 ： 7 ）位同步REF-
数据
12
