位置：首页 > IC型号导航 > 首字符S型号页 > 首字符S的型号第0页 > SN65LVDS86ADGGRQ1 > SN65LVDS86ADGGRQ1 PDF资料 > SN65LVDS86ADGGRQ1 PDF资料1第6页
SN65LVDS86A-Q1
SLLS768A
–
2006年8月
–
经修订的2012年1月
www.ti.com
参数测量信息
AP
V
ID
AM
V
IC
V
IAM
V
IAP
(V
IAP
+ V
IAM
)/2
图2.电压定义
CLKIN / CLKOUT
D0, D6, D12
D1, D7, D13
D2, D8, D14
D3, D9, D15
D18, D19, D20
所有其他
A.
在16灰度测试图案的测试设备的功耗为典型的显示模式。
图3. 16级灰度的测试模式波形
t
c
CLKIN / CLKOUT
即使DN
ODD DN
A.
最坏情况下的测试图案产生近的最大开关频率为所有的LVTTL输出。
图4.最坏情况测试模式波形
6
提交文档反馈
版权
2006-2012年，德州仪器
产品文件夹链接（ S） ：
SN65LVDS86A-Q1
