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集成
电路
系统公司
ICS84320I-01
780MH
Z
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
F
EATURES
双路3.3V的差分LVPECL输出
可选晶体振荡器接口
或LVCMOS / LVTTL TEST_CLK
输出频率范围： 77.5MHz至780MHz
晶振输入频率范围： 14MHz至40MHz
VCO范围：了620MHz至780MHz
并行或串行接口进行编程计数器
和输出分频器
占空比： 44 ％ - 56 ％ （N > 1 ）
RMS周期抖动： 2.0ps （典型值）
RMS相位抖动为155.52MHz ，使用38.88MHz晶振
（ 12kHz至20MHz ） ： 2.38ps （典型值）
在155.52MHz RMS相位噪声（典型值）
OFFSET
噪声功率
100Hz的................ -90.5 dBc的/赫兹
1kHz时............... -114.2 dBc的/赫兹
10kHz的............... -123.6 dBc的/赫兹
100kHz的............... -128.1 dBc的/赫兹
3.3V电源电压
-40 ° C至85°C的工作环境温度
可用两种，标准及RoHS /无铅
兼容封装
G
ENERAL
D
ESCRIPTION
该ICS84320I -01是一种通用的，双
水晶输出到3.3V的差分LVPECL
HiPerClockS
高频率合成器和成员
在HiPerClockS 系列高性能的
从ICS时钟解决方案。该ICS84320I -01
有一个可选的TEST_CLK或晶体输入。该VCO
工作在了620MHz至780MHz的频率范围。该
VCO频率进行编程的步骤等于
输入基准或晶体频率值。该VCO
和输出频率可以通过使用编程
串行或并行接口的配置逻辑。该
在ICS84320I -01的低相位噪声特性
使其成为理想的时钟源，万兆以太网，
SONET和串行连接SCSI的应用程序。
IC
S
B
LOCK
D
IAGRAM
VCO_SEL
XTAL_SEL
TEST_CLK
XTAL_IN
OSC
XTAL_OUT
32 31 30 29 28 27 26 25
M5
1
2
3
4
5
6
7
8
9 10 11 12 13 14 15 16
TEST
TEST
V
CC
FOUT1
nFOUT1
V
CCO
FOUT0
nFOUT0
V
EE
VCO_SEL
nP_LOAD
P
IN
A
SSIGNMENT
0
1
M4
M3
M2
M1
M0
XTAL_IN
24
XTAL_OUT
TEST_CLK
XTAL_SEL
V
CCA
S_LOAD
S-DATA
S_CLOCK
MR
PLL
相位检测器
MR
÷
M
VCO
0
1
÷
N
÷
1
÷
2
÷
4
÷
8
M6
M7
M8
FOUT0
nFOUT0
FOUT1
nFOUT1
N0
N1
nc
V
EE
ICS84320I-01
32引脚LQFP
采用7mm x 7mm X 1.4毫米
包体
Y封装
顶视图
23
22
21
20
19
18
17
S_LOAD
S-DATA
S_CLOCK
nP_LOAD
M0:M8
N0:N1
CON组fi guration
接口
逻辑
本文提供的初步信息代表了原型或试生产的产物。所提到的特征是基于初始
产品特性。集成电路系统公司（ ICS）保留更改任何电路或规格，恕不另行通知。
84320AYI-01
www.icst.com/products/hiperclocks.html
1
REV 。一个2005年8月11日
