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NE5550779A
测试电路原理图900兆赫
V
GS
V
DS
R1
IN
50
Ω
C10
C11
C12
C13
C1
L1
C2
OUT
C24
50
Ω
FET
NE5550779A
C20
C21
C22
C23
测试电路的测量电特性的成分
符号
C10
C11
C12
C13
C20
C21
C22
C23
C24
C1
C2
L1
R1
PCB
SMA连接器
价值
27 pF的
6.8 pF的
15 pF的
18 pF的
8.2 pF的
3.9 pF的
1.5 pF的
8.2 pF的
100 pF的
1
μ
F
1
μ
F
74.7 nH的
20 kΩ
TYPE
GQM1882C1H270JB01
GQM1882C2A6R8DB01
GQM1882C1H150JB01
GQM1882C1H180JB01
GQM1882C1H8R2DB01
GQM1883C2A3R9CB01
GQM1884C2A1R5CB01
GQM1882C1H8R2DB01
GQM1882C1H101JB01
GRM21BB31H105KA2L
GRM21BB31H105KA2L
D20-74N7
MCR03J203
R1766 ，吨= 0.8毫米，
ε
R = 4.8 ，大小= 30
×
40 mm
WAKA 01K0790-20
制造者
村田
村田
村田
村田
村田
村田
村田
村田
村田
村田
村田
Ohesangyou
ROHM
松下
WAKA
<R>
R09DS0040EJ0300 Rev.3.00
2013年3月12日
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