恩智浦半导体
PCF8563
实时时钟/日历
8.9 EXT_CLK测试模式
测试模式。它可以用于机载测试。在这种模式下，可以对
设置测试条件，并控制RTC的操作。
测试模式是通过设置位TEST1寄存器Control_status_1输入。然后
销CLKOUT变为输入。测试模式替换为内部64 Hz的信号
信号施加到引脚CLKOUT 。每64个上升沿适用于针CLKOUT然后将
生成一秒的增量。
该信号施加到引脚CLKOUT应具有300ns和一个最小脉冲宽度
1000 ns的最长期限。内置64 Hz的时钟，现在从CLKOUT来源，是
分频为1赫兹由2
6
鸿沟链称为预分频器。该预分频器可设置成
通过使用位STOP已知状态。当停止位被置位，预分频器复位为0 （ STOP
必须清除之前的预分频器可以重新操作） 。
从停止状态时，第一秒增量将32后正发生
边缘上的CLKOUT 。此后，每隔64正沿将导致一第二
递增。
备注：
进入EXT_CLK测试模式没有被同步到内部64 Hz的时钟。
当进入测试模式，没有假定为预分频器的状态可以进行。
8.9.1操作示例：
1.设置EXT_CLK测试模式（ Control_status_1 ，位TEST1 = 1）。
2.设置STOP （ Control_status_1 ，停止位= 1 ） 。
3.清除STOP （ Control_status_1 ，停止位= 0） 。
4.设置时间寄存器所需的值。
5.将32个时钟脉冲CLKOUT 。
6.读时间寄存器来看到的第一个变化。
7.应用64个时钟脉冲CLKOUT 。
8.读时间寄存器来看看第二个变化。
额外的增量重复步骤7和8 。
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启10 - 2012年4月3日
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