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TLV702xx
SLVSAG6B
–
2010年9月
–
经修订的2011年2月
www.ti.com
这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理
适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序，可以造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精密集成电路可能会更
容易受到伤害，因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布的规格。
订购信息
(1)
产品
TLV702xx(x)Pyyyz
V
OUT
(2)
XX(X)
为额定输出电压。对于输出电压为100 mV的分辨率，两个数字都在用
订货数量;否则，三位数字被使用（例如， 28 = 2.8伏; 475 = 4.75 V） 。
P
是可选的;与P设备有一个有源输出放电的LDO稳压器。
YYY
是包的指示符。
Z
是包的数量。使用"R"的卷轴（ 3000件） ，并"T"磁带（ 250件） 。
(1)
(2)
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或者访问
器件产品文件夹
at
www.ti.com 。
从1.2 V至4.8 V的50 mV的增量输出电压可供选择。请与工厂联系了解详细信息和可用性。
绝对最大额定值
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明）
(1)
价值
民
IN
电压
(2)
单位
最大
+6.0
+6.0
+6.0
V
V
V
–0.3
–0.3
–0.3
EN
OUT
OUT
经营虚拟结，T
J
存储，T
英镑
人体模型（ HBM ） QSS 009-105 （ JESD22- A114A ）
(3)
目前（来源）
输出短路持续时间
温度
内部限制
不定
–55
–55
+150
+150
2
500
°C
°C
kV
V
静电放电额定值
充电设备模型（ CDM） QSS 009-147
(JESD22-C101B.01)
(1)
(2)
(3)
强调超越那些在列
绝对最大额定值
可能对器件造成永久性损坏。这些压力额定值
只和功能在这些或任何其他条件超出下所指示的设备的操作
推荐工作
条件
是不是暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定条件下我的影响器件的可靠性。
所有的电压都是相对于网络的接地端子。
ESD测试是根据相应的JESD22 JEDEC标准进行。
耗散额定值
(1)
包
的dBV
DSE
(1)
R
θJA
200°C/W
180°C/W
T
A
＆ LT ;
+25°C
500mW
555mW
T
A
= +70°C
275mW
305mW
T
A
= +85°C
200mW
222mW
对于主板的详细信息，请参阅
热信息
部分。
2
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2010-2011年，德州仪器
