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SCAN926260六1 10总线LVDS解串器与IEEE 1149.1和全速BIST
2004年7月
SCAN926260
六1 10总线LVDS解串器与IEEE 1149.1和
全速BIST
概述
该SCAN926260集成了六个10位解串器设备
到单个芯片中。该SCAN926260可同时
反序列化到已序列6的数据流
美国国家半导体的10位总线LVDS串行器。在
此外， SCAN926260是符合IEEE标准
1149.1 ，还设有一个全速内置自测试
（ BIST ） 。有关详细信息，请参阅章节标题"IEEE
1149.1测试Modes"和"BIST单独测试Modes."
在SCAN926260解串器的每个块都有它自己的
断电销（ PWRDWN [ n]）的和独立运行
与自己的时钟恢复电路和锁定检测信号 -
ING 。另外，一个主关机销（ MS_PWRDWN ）
这使所有的整个设备进入睡眠模式提供。
该SCAN926260采用+ 3.3V单电源供电，
功耗1.2W在3.3V与PRBS - 15图案上的所有
渠道660Mbps 。
特点
n
反序列一到六个总线LVDS串行输入数据
使用内嵌的时钟流
n
IEEE 1149.1 （ JTAG）标准和全速BIST测试
模式
n
并行时钟频率16-66MHz
n
芯片过滤PLL
n
在断电高阻抗输入（V
cc
= 0V)
n
在+ 3.3V单电源供电
n
196引脚LBGA封装（薄型球栅阵列）
包
n
工业温度范围操作： -40°C至+ 85°C
n
ROUTn [ 0 ： 9 ]和RCLKn默认高时，通道
未锁定
n
每通道断电以节省电力未使用
频道
典型用途
20028302
订购信息
订单号
SCAN926260TUF
SCAN926260TUFX
功能
包
六通道10位BLVDS解串器UJB196A （托盘）
符合IEEE 1149.1和全速BIST
六通道10位BLVDS解串器UJB196A （卷带式）
符合IEEE 1149.1和全速BIST
三州
是美国国家半导体公司的注册商标。
2004美国国家半导体公司
DS200283
www.national.com
