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飞思卡尔半导体公司
MC9S12DP512设备指南V01.23
A.3.2 NVM可靠性
NVM中的块的可靠性是通过应力测试期间对外贸易资质科幻阳离子，恒定过程保证
显示器和老化筛选早期故障。
故障率数据保留和编程/擦除循环是在工作条件规定
指出。
编程/擦除的行业周期计数，每次一个部门或整体擦除事件增加
执行。
表A- 12 NVM可靠性特性
条件示于
表A- 4
除非另有说明
编号C
等级
在平均结温数据保留
T
Javg
= 70°C
符号
t
NVMRET
n
FLPE
n
EEPE
n
EEPE
民
15
10,000
10,000
典型值
-
-
-
最大
-
-
-
单位
岁月
周期
周期
飞思卡尔半导体公司...
1
2
3
C
编程/擦除周期了C闪光次数
C
编程/擦除周期数EEPROM
(–40°C
≤
T
J
≤
0°C)
编程/擦除周期数EEPROM
（ 0 ° C＆ LT ;吨
J
≤
140°C)
4
C
100,000
-
-
周期
101
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