位置：首页 > IC型号导航 > 首字符L型号页 > 首字符L的型号第858页 > LM3S5762-IQR50-A0 > LM3S5762-IQR50-A0 PDF资料 > LM3S5762-IQR50-A0 PDF资料1第782页
电气特性
图21-2 。 JTAG测试时钟输入时序
J2
J3
J4
TCK
J6
J5
图21-3 。 JTAG测试访问端口（ TAP ）时序
TCK
J7
J8
J7
J8
TMS
TMS输入有效
J9
J10
TMS输入有效
J9
J10
TDI
J11
TDI输入有效
J12
TDO输出有效
TDI输入有效
J13
TDO输出有效
TDO
21.2.4
RESET
表21-16 。复位特性
参数
号
R1
R2
R3
R4
R5
R6
R7
R8
R9
参数
V
TH
V
BTH
T
POR
T
BOR
T
IRPOR
T
IRBOR
T
IRHWR
T
IRSWR
T
IRWDR
参数名称
复位门限
欠压阈值
上电复位超时
欠压超时
上电复位后，内部复位超时
BOR后，内部复位超时
a
民
-
2.85
-
-
6
0
0
2.5
2.5
-
-
2
喃
2.0
2.9
10
500
-
-
-
-
-
-
-
-
最大
-
2.95
-
-
11
1
1
20
20
100
250
-
单位
V
V
ms
s
ms
s
ms
s
s
ms
s
s
硬件复位后内部复位超时
（ RST引脚）
经过内部复位超时软件启动
系统复位
a
看门狗复位后，内部复位超时
a
电源电压（V
DD
）上升时间（ 0V - 3.3V ） ，
上电复位
电源电压（V
DD
）上升时间（ 0V - 3.3V ） ，
从休眠状态唤醒
最低
RST
脉冲宽度
R10
T
VDDRISE
R11
一。 20 * T
MOSC_per
T
民
782
德州仪器（TI）生产数据
2011年11月17日
