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测试模式位，
X5:X0,
在频发现和
控制寄存器，控制15个不同的测试模式中的状态。只
这四个国家中有一个应用程序使用。所有其他国家
仅用于制造测试的目的。
通过规定的测试模式状态
X2:X0
in
表18
可能是
用于操作在所述调制器中的VHF范围。
表18.测试模式为VHF操作可用
X5
0
0
0
0
0
x
但是应当注意的是，在VHF范围操作有
高杂散内容由于数字分频器。
射频滤波
OUT
信号可能需要以满足
期望的性能指标。性能
未提供甚高频运行数据。
X4
0
0
0
0
0
x
X3
0
0
0
0
0
x
X2
0
0
0
0
1
1
X1
0
0
1
1
0
x
X0
0
1
0
1
0
x
描述
正常工作
RF/2
RF4
RF/8
RF/16
其他11个测试模式状态制造测试目的保留。
选项来控制寄存器1
对于可选的控制寄存器1 ， OCR1的格式，是
所示
网络连接gure 8 。
位
R14:R0
没有被定义为系统
应用程序。它们仅用于生产测试。
在NOR
MAL操作这些位必须设置为逻辑0 。
当
最高位
R15
1
1
ADR
R14
0
R13
0
R12
0
R11
0
R10
0
R9
0
R8
0
R7
0
超高频振荡器被禁止，不写选项控制稳压
存器1和2的任何其他时间，写入选项控制寄存器
TER值1和2中是允许的。
最低位
R6
0
R5
0
R4
0
R3
0
R2
0
R1
0
R0
0
RESET
状态
保留的唯一的制造测试目的
保留的唯一的制造测试目的
图8.选项控制寄存器1
表19.选项控制寄存器1 ，位说明
位
15
14-8
7-0
名字
ADR
—
—
描述
地址功能位。必须被设置为逻辑1 。
保留了生产测试。
保留了生产测试。
MC44CC373
16
数字家庭
飞思卡尔半导体公司
