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半导体
MSC23440D
注：为200ps的1.启动延时上电后是必需的，其次是最低八初始化周期
（ / RAS只刷新或/ CAS / RAS刷新之前）之前，器件正常工作的实现。
2. AC特性假定吨
T
=为5ns 。
3. V
IH
（分钟）和V
IL
（最大）为参考电平测量输入信号的时序。转换时间（T
T
）是
V之间测量
IH
和V
IL
.
4.该参数测量与负载电路等效于2 TTL负载和100pF电容。
内的T 5.操作
RCD
（最大值）限制确保吨
RAC
（最大）可以得到满足。
t
RCD
（最大）被指定为唯一的一个参考点。如果T
RCD
大于指定吨
RCD
（最大值）限值，则
的存取时间为t控制
CAC
.
内的T 6.操作
拉德
（最大值）限制确保吨
RAC
（最大）可以得到满足。
t
拉德
（最大）被指定为唯一的一个参考点。如果T
拉德
大于指定吨
拉德
（最大值）限值，则
的存取时间为t控制
AA
.
7. t
关闭
（最大值）和T
OEZ
（最大）限定在其中的输出达到开路状态的时间，并且
未参照的输出电压电平。
8. t
RCH
或T
RRH
必须满足一个读周期。
9. t
WCS
, t
CWD
, t
RWD
, t
AWD
和T
CPWD
不restrictve操作参数。它们被包括在数据
片作为唯一的电气特性。如果T
WCS
≥
t
WCS
（分钟） ，然后将周期是一个早期的写周期和
数据输出将保持开路（高阻抗）的整个周期。如果T
CWD
≥
t
CWD
（分钟），叔
RWD
≥
t
RWD
（分钟），叔
AWD
≥
t
AWD
（分钟）和叔
CPWD
≥
t
CPWD
（分钟） ，则该循环的读 - 修改 - 写周期和
数据列将包含从所选择的单元中读取数据;如果没有的条件，上面套满足，
然后将数据输出（在存取时间）的状态是不确定的。
10.这些参数是参照/ CAS前缘处于早期的写周期，并且在/ WE
领先优势在/ OE控制写周期，或读 - 修改 - 写周期。
11.测试模式通过执行启动/ WE及/ CAS前/ RAS的刷新周期。此模式是
锁存并保持有效，直到产生出周期。本数据表中规定的测试模式
是一个4位的并行测试功能。 CA0和CA1区不被使用。在一个读周期中，如果所有的内部位是相等的，
DQ引脚将指示一个高的水平。如果任何内部位不相等， DQ引脚将指示一个较低的水平。
测试模式被清除和存储装置由一个/ RAS返回到其正常的工作状态下，只有
刷新或/ CAS前/ RAS的刷新周期。
12.在一个测试模式读出周期中，访问时间参数的值被延时为5ns为指定的值。
这些参数应在测试模式下循环通过将上述值的指定的指定
本数据表中的值。
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