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半导体
MSC23CV23257D
注：为200ps的1.启动延时上电后是必需的，其次是最低八初始化周期
（ / RAS只刷新或/ CAS / RAS刷新之前）之前，器件正常工作的实现。
2. AC特性假定吨
T
= 2ns的。
3. V
IH
（分钟）和V
IL
（最大）为参考电平测量输入信号的时序。过渡时间（t
T
）是
V之间测量
IH
和V
IL
.
4.该参数测量与负载电路等效于1TTL负荷和100pF电容。
输出定时的基准等级为V
OH
= 2.0V和V
OL
= 0.8V.
内的T 5.操作
RCD
（最大值）限制确保吨
RAC
（最大）可以得到满足。
t
RCD
（最大）被指定为唯一的一个参考点。如果T
RCD
大于指定吨
RCD
（最大值）限值，则
的存取时间为t控制
CAC
.
内的T 6.操作
拉德
（最大值）限制确保吨
RAC
（最大）可以得到满足。
t
拉德
（最大）被指定为唯一的一个参考点。如果T
拉德
大于指定吨
拉德
（最大值）限值，则
的存取时间为t控制
AA
.
7. t
CEZ
（最大），叔
苏亚雷斯
（最大值）和T
WEZ
（最大）限定在其中的输出达到开路的时间
调节并没有被引用到输出电压电平。
8. t
CEZ
和T
苏亚雷斯
必须满足开路状态。
9. t
RCH
或T
RRH
必须满足一个读周期。
10.测试模式通过执行启动/ WE及/ CAS前/ RAS的刷新周期。此模式是
锁存并保持有效，直到产生出周期。本数据表中规定的测试模式
是一个2位并行测试功能。在测试模式CA9是不使用。在一个读周期中，如果所有的内部位是相等的，
DQ引脚将指示一个高的水平。如果任何内部位不相等， DQ引脚将指示一个较低的水平。
测试模式被清除和存储装置通过执行返回到它的正常操作状态
/ RAS只刷新周期或/ CAS前/ RAS的刷新周期。
11.在一个测试模式读出周期中，访问时间参数的值被延时为5ns为指定的值。
这些参数应在测试模式下循环通过将上述值的指定的指定
本数据表中的值。
