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电气特性
电气性能曲线
电气性能曲线
t
R（ SI ）
V
DD
= 5.0 V
t
F（ SI ）
< 50纳秒
< 50纳秒
0.7 V
DD
5.0 V
50%
0.2 V
DD
0.7 V
DD
t
R（ SO ）
t
F（ SO ）
SCLK
0
V
OH
V
OL
V
OH
t
DLY （ LH ）
SCLK
33291L
下
TEST
SO
C
L
= 200 pF的
SO
（低到高）
0.2 V
DD
SO
（高到低）
t
有效
0.7 V
DD
t
DLY （ HL ）
C
L
表示测试夹具和探头的总电容。
0.2 V
DD
V
OL
的SO （低到高）的内部条件，使得输出
低到高的转变
CS
使SO输出从切换
高电平变为低电平。
图4.有效数据延迟时间和
有效时间测试电路
图6.有效数据延迟时间和
有效的时间波形
t
R（ SI ）
V
DD
= 5.0 V
V
引体向上
= 2.5 V
t
F（ SI ）
< 50纳秒
0.7
VDD
5.0 V
0
CS
0.2 VDD
< 50纳秒
90%
10%
TSO （EN ）
90%
R
L
= 1.0 kΩ
SO
（高到低）
TSO （ DIS ）
VTRI国家
CS
33291L
下
TEST
SO
C
L
= 20 pF的
TSO （EN ）
90%
10%
TSO （ DIS ）
TSO （ DIS
VOH
SO
（低到高）
10%
VTRI国家
C
L
表示测试夹具和探头的总电容。
图5.启用和禁用时间测试电路
1. SO （高到低）的波形是内部条件， SO输出
这么输出为低电平时，输出被禁用，因为DE-的结果，除了
tecting电路故障与CS的高逻辑状态;例如，负载开路。
2. SO（低到高）的波形是用于与内部条件如SO输出
这么输出为高电平时，输出被禁用，因为DE-的结果，除了
tecting电路故障与CS的高逻辑状态;例如，缩短了负载。
图7.启用和禁用时间波形
33291L
模拟集成电路设备数据
飞思卡尔半导体公司
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