SPI位图
表114.寄存器2 ，中断检测0
名字
位＃
读/写
RESET
默认
描述
LOBATHS
版权所有
BVALIDS
版权所有
版权所有
IDFLOATS
IDGNDS
版权所有
版权所有
版权所有
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
R
R
R
R
R
R
R
R
R
R
无
无
S
0
S
0
0
LOBATHI感觉有点
供将来使用
USB B -会议有效感
供将来使用
供将来使用
ID浮球感位
ID接地检测位
供将来使用
供将来使用
供将来使用
无
无
S
S
0
0
0
表115.寄存器3 ，中断状态1
名字
位＃
读/写
RESET
默认
描述
1HZI
东大
PWRON3I
PWRON1I
PWRON2I
WDIRESETI
SYSRSTI
RTCRSTI
PCI
WARMI
MEMHLDI
LPBI
THWARNLI
THWARNHI
CLKI
备用
SCPI
版权所有
版权所有
版权所有
版权所有
未使用
BATTDETBI
备用
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
RW1C
R
R
R
R
R
RW1C
RW1C
RTCPORB
RTCPORB
OFFB
OFFB
OFFB
RTCPORB
RTCPORB
RTCPORB
OFFB
RTCPORB
RTCPORB
RTCPORB
RESETB
RESETB
RESETB
RESETB
RESETB
0
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1.0赫兹的时间刻度
中日间报警时间
PWRON3事件
PWRON1事件
PWRON2事件
WDI系统复位事件
PWRON系统复位事件
RTC复位事件
停电事件
热启动事件
内存保持活动
低功耗USB开机检测
热警告阈值低
热警告高门槛
时钟源的变化
供将来使用
短路保护跳闸检测
供将来使用
供将来使用
供将来使用
供将来使用
无法使用
电池拆卸检测
供将来使用
RESETB
RESETB
0
0
表116.寄存器4 ，中断屏蔽1
名字
位＃
读/写
RESET
默认
描述
1HZM
TODAM
PWRON3M
PWRON1M
PWRON2M
WDIRESETM
SYSRSTM
0
1
2
3
4
5
6
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
RTCPORB
RTCPORB
OFFB
OFFB
OFFB
RTCPORB
RTCPORB
1
1
1
1
1
1
1
1HZI屏蔽位
东大掩码位
PWRON3屏蔽位
PWRON1屏蔽位
PWRON2屏蔽位
WDIRESETI屏蔽位
SYSRSTI屏蔽位
13892
124
模拟集成电路设备数据
飞思卡尔半导体公司
