LTM9011-14/
LTM9010-14/LTM9009-14
应用信息
数据格式
表2示出了模拟输入之间的关系
电压和输出的数字数据位。默认情况下，
输出数据格式为偏移二进制码。 2的补
格式可以通过串行编程模式中选择
控制寄存器A1 。
表2.输出代码与输入电压
A
IN +
– A
IN-
（ 2V系列）
>1.000000V
+0.999878V
+0.999756V
+0.000122V
+0.000000V
–0.000122V
–0.000244V
–0.999878V
–1.000000V
<–1.000000V
D13-D0
（偏移二进制）
11 1111 1111 1111
11 1111 1111 1111
11 1111 1111 1110
10 0000 0000 0001
10 0000 0000 0000
01 1111 1111 1111
01 1111 1111 1110
00 0000 0000 0001
00 0000 0000 0000
00 0000 0000 0000
D13-D0
（ 2的补码）
01 1111 1111 1111
01 1111 1111 1111
01 1111 1111 1110
00 0000 0000 0001
00 0000 0000 0000
11 1111 1111 1111
11 1111 1111 1110
10 0000 0000 0001
10 0000 0000 0000
10 0000 0000 0000
数字输出测试图形
以允许在电路测试的数字接口的
A / D ，有一个测试模式，迫使A / D转换数据输出
（ D13 - D0）所有通道为已知值。数字输出
测试模式是通过串行编程模式下启用
控制寄存器A3和A4 。当启用时，测试巳
燕鸥覆盖所有其他格式模式： 2的补
和随机数发生器。
输出禁用
数字输出可以通过串行编程禁用
明模式控制寄存器A2 。当前驱动器为所有
数字输出，包括DCO和FR被禁用，以节省
功率或启用在线测试。当禁用的COM
每对输出的共模变成高阻抗，
但是差分阻抗可以保持较低。
睡眠和打盹模式
A / D转换可放置在睡眠或打盹模式，以节省
力。在睡眠模式下，整个设备断电，
造成为2mW的功率消耗。睡眠模式
通过模式控制寄存器A1启用（串行编程
模式），或者通过SDI（并行编程模式）。时间
从睡眠模式中恢复所需的约2毫秒。
在打盹模式下的A / D通道的任意组合可
断电而内部参考电路和
PLL保持活跃，从而实现更快的唤醒比睡眠
模式。从休眠模式中恢复至少需要100
时钟周期。如果应用程序要求非常精确的DC
稳定时间，然后一个额外的50微秒应该允许这样的
片内基准可以从轻微的温度定居
移位引起的供电电流的A / D的变化
叶打盹模式。打盹模式由模式控制启用
在串行编程模式寄存器A1 。
数字输出随机函数发生器
从A / D数字输出的干扰，有时
不可避免的。数字干扰可为电容性的或
通过接地平面的电感耦合或耦合。
即使是一个很小的耦合系数会导致不必要的音
在ADC输出频谱。通过随机数字
之前输出被发送芯片外，这些不想要的
音调可以是随机的这减少了不必要的
音幅度。
数字输出是通过将一个异随机
LSB的和所有其他数据之间的或逻辑运算
输出位。为了解码，反向操作施加
-an异或运算之间施加的最低位
和所有其他位。帧中继和DCO的输出不受影响。
输出随机函数发生器是通过串行编程启用
模式控制寄存器A1 。
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