超高精度箔环绕式表面贴装片式电阻器
使用扩展垫用于高功率/高温应用
高达+ 225℃，负载为0.05 ％ ， TCR的寿命稳定性为± 1ppm的/℃的
特点
电阻的温度系数（TCR ） ：
± 1 PPM / ° C典型值（ - 55° C至+ 125°C ， + 25℃参考）
± 2.5 PPM / ° C典型值（ - 55 ° C至+ 200 ° C， + 25°C
价。 ）
电阻范围： 10 125 k （更高
而较低的值，请联系VFR的
应用工程部）
电阻公差：为± 0.02 ％
工作电源
(1)
：为1200MW ，在+ 70°C ;
为330mW功率在+ 200℃
长期稳定性：在± 0.05 ％ ，在+ 225 ℃下2000小时，
无电源
负载寿命稳定性：至± 0.05％在+ 200℃下2000小时，在
工作电源
Vishay箔电阻并不限于标准值;
具体"as required"值可以在不增加供应
成本或交货（例如1K2345与1K ）
热稳定时间< 1秒（标称值达到
在10ppm的稳态值）
静电放电（ESD ）的至少25千伏
无电感，无电容设计
上升时间： 1 ns无振铃
电流噪声：施加电压的0.010 μV （ RMS） /伏
（ < - 40分贝）
电压系数： <为0.1ppm / V
无感： < 0.08 μH
无热点设计
可用终端完成：
高温焊料
配套装置可根据要求提供
原型数量在短短5个工作日内提供
或更早。欲了解更多信息，请联系
foil@vishaypg.com
介绍
Vishay箔电阻（ VFR ）推出超新行
精密金属体积
Z1箔技术：回绕
表面贴装片式电阻器与延长垫的高
温度可达+ 225℃
(1)
（工作电源：为330mW功率时
+200 °C).
新的扩展键盘的设计也表现出较好的热
耗散，从而实现更高的电源使用情况（工作
电源：为1200MW ，在+ 70°C
(1)
） 。该FRSH有一个完整的
环绕式端接，在确保安全处理
制造过程中，以及提供稳定
在多个热循环。
该FRSH是在指定的任何值可用
电阻范围。 VFR的应用工程部门
可提供咨询和提出建议。为
非标
技术
需求
和
特别
应用程序，请联系
foil@vishaypg.com 。
表1 - 容和TCR VS.
电阻值
(1)(2)
（ - 55 ° C至+ 200 ° C， + 25℃参考。 ）
阻力
价值
()
250to 125K
100to < 250
50to < 100
25to < 50
10 < 25
公差
(%)
± 0.02
± 0.05
± 0.1
± 0.25
± 0.5
典型TCR
（ PPM / ° C）
图1 - 功耗降低曲线
额定功率的百分比
-55°C
100
75
50
25
0
-75
+70°C
±2.5
记
(1)
得到的陶瓷PCB表演。
(2)
更严格的表演和非标值高达150 k ，
请联系VFR的应用工程部门由
发送电子邮件到该地址在下面的页脚。
-50
-25
0
+25
+50
+75 +100 +125 +150 +175 +200 +225 +250
环境温度（ ℃）
文档编号： 63211
修订： 20 -MAR- 12
如有任何疑问，请联系：
foil@vishaypg.com
www.vishayfoilresistors.com
1
FRSH系列（ 0603 ， 0805 ， 1206 ， 1506 ， 2010 ， 2512 ） （ Z1箔）
Vishay箔电阻
高温产品
电阻器是一个电的无源积木
电路。它们可被用于降低电压，缓冲
当电路接通时，提供在反馈的浪涌
监视环路，感测电流流动等。当
应用程序要求随时间的稳定性和载荷，初始
准确度，随着温度的变化最小以上
200℃ ，耐湿度和许多其它的
下面将要描述的特征，只有新的
代Vishay箔电阻具有的属性
需要这样的应用。在过去的几个月中，有
得到了长足的增长，用于精确的需求，
稳定和可靠的电阻器，可以在恶劣的操作
环境中，尤其是在高温下，以220℃。
用于工业，军事，航空航天，许多模拟电路，
医疗，井下，油井和汽车应用
需要无源器件如电阻器具有
从它们的初始值超过+运行时最小的漂移
175 ℃，在潮湿的环境中。在这些应用中，该
最重要的因素是温度依赖性和
的寿命公差结束（这是稳定的一部分） ，并
在较小程度上，初始容差。
新型Vishay箔电阻提供良好的稳定性下
按客户要求的最大允许漂移
规格通过数千小时的运行下，
苛刻的条件，如极端的温度和
井下石油测井辐射的环境中丰富
应用程序，在寒冷的北极，海下或深
空间。所有大宗金属
箔电阻接收稳定
处理，如重复的短期电力过载，以
通过对不可预知的压力保证可靠的服务
极端的操作。相较于散装金属
箔，厚，
薄膜电阻元件产生的具有
不可控的材料。热或机械应力对
电阻元件会导致形成膜的颗粒
扩展。然而，经过这些应力被减轻，在
在膜基质颗粒不会返回到原来的确切
位置。这堕落的整体稳定性。
Vishay箔电阻“超高精度金属体积
铝箔
技术包括许多类型的电阻器具有多种
标准配置，能够承受非常规
上面和下面的地球的环境条件
表面采用特殊的后制造业务
专门为这个目的而开发的。的稳定性
电阻主要取决于暴露于较高的历史
温度。稳定性是影响：
1.变化的环境温度和热
相邻元件（由温度定义
阻力系数，或TCR ）
突然施加动力失稳2.热冲击
（由功率系数电阻，或PCR定义）
3.长期暴露于应用功率（负载寿命稳定性）
从被4.重复应力接通和断开
在非常高精密电阻器需要在一个操作
温度超过+ 175 ° C，这些环境
影响必须加以考虑，以实现高稳定性
与负载变化（焦耳效应）和环境温度。
块状金属
箔电阻的新型Z1箔技术
提供了幅度降低一个数量级的散装金属
箔元件的灵敏度，温度变化 - 无论是
外部和内部 - 侧重于长期稳定
高温的环境中。
为了充分利用低TCR和长期的
稳定性的提高，有必要考虑
在电阻器的电阻响应于各个不同
上述的效果。正如下面，新产品说明
已经开发成功地处理这些因素。
用于高温应用中的稳定性和总
误差预算的主要关注，新一代
Vishay箔电阻提供了最好的抵御时间
升高的温度。
新型Vishay箔技术使我们生产
以客户为导向的产品设计，以满足独特的，
具体的技术要求。除特殊
极端的环境条件下，芯片稳定
生产线，我们提供额外的专门职位面向
制造业务（ PMO）的高温
需要更高程度的可靠性应用
和稳定性。
静电放电（ESD）是另一个潜在的问题
这可能会导致在高温不可预测的故障
应用程序，增加电阻器的灵敏度，以
ESD 。
ESD损害的电子设备可以出现在任何点
该设备的生命周期，从制造到现场服务。一
电阻器的暴露于在ESD事件可能立即失败
或可能会遇到一个潜在的缺陷。随着潜在缺陷，
过早失效可以发生后的电阻是已经
后一个不可预知的运作在成品
工龄。大宗金属
箔电阻能够
承受静电放电的至少25kV的无
退化。
VFR的应用工程部门始终
可帮助任何特殊要求，你可能会
有。如果您不能确定哪个电阻器最适合您的需求，
请不要犹豫，与他们联系以获取更多信息：
foil@vishaypg.com
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图2 - 裁剪将值
（概念图）
表4 - 规格参数
(1)
芯片
SIZE
0603
0805
1206
1506
2010
2512
评级
功率（mW ）
在+ 70°C
120
300
500
600
800
1200
工作
功率（mW ）
在+ 200 ° C *
33
83
140
167
220
330
阻力
范围
()
100 5K
10to 8K
10to 25K
10to 30K
10 70K
10to 125K
Interloop电容
减少系列
CURRENT PATH
修剪前
CURRENT PATH
修剪后
修剪过程
移除该材料
做空Strip地区
改变当前路径
并增加
阻力
互感
由于减少
若要更改
电流方向
记
*
最高工作电压对于给定的电阻值，计算
运用
V
=
P
R
.
注意：
显示为黑色，白色腐蚀箔的空间
为了获得精确的电阻值，块状金属
铝箔
芯片是通过选择性地移除内置修剪“短路棒”。
以增加在已知的增量电阻，标记区域
被切断，产生逐渐变小的增长性。
这种方法减少了“热斑”的影响，并提高了
该Vishay箔片的长期稳定性。
表格2-尺寸及模式
以英寸（毫米）
顶视图
L
G
Z
D
W
± 0.005 (0.13)
0.032(0.81)
0.050 (1.27)
0.062 (1.57)
0.062 (1.57)
0.097 (2.46)
0.127 (3.23)
厚度
最大
0.025 (0.64)
0.025 (0.64)
0.025 (0.64)
0.025 (0.64)
0.025 (0.64)
0.025 (0.64)
D
± 0.005 (0.13)
0.011 (0.28)
0.015 (0.38)
0.035 (0.89)
0.047 (1.20)
0.071 (1.82)
0.095 (2.43)
Z
0.102 (2.59)
0.122 (3.10)
0.175 (4.45)
0.199 (5.05)
0.247 (6.27)
0.291 (7.39)
G
0.031 (0.78)
0.028 (0.71)
0.029 (0.74)
0.029 (0.74)
0.029 (0.74)
0.029 (0.74)
X
0.031 (0.78)
0.050 (1.27)
0.071 (1.80)
0.071 (1.80)
0.103 (2.62)
0.127 (3.23)
推荐的焊盘图案*
脚印
X
T
扩展垫
芯片
SIZE
0603
0805
1206
1506
2010
2512
L
± 0.005 (0.13)
0.063 (1.60)
0.080 (2.03)
0.126 (3.20)
0.150 (3.81)
0.198 (5.03)
0.249 (6.32)
W
*对于0603和0805焊盘图形尺寸是按照IPC -782
表3 - 比较表演
(2)
- 薄膜VS. BULK METAL
Z1-FOIL
技术“
R
极限
薄膜
（典型值）
± 0.1 %
± 0.1 %
± 0.1 %
± 0.5 %
± 0.5 %
R
极限
大宗金属
Z1箔技术 -
FRSH系列
(1)
（典型值）
±0.05％ （ 500ppm以下）
± 0.0025％ （ 25ppm的）
± 0.003％ （ 30ppm以下）
±0.05％ （ 500ppm以下）
±0.05％ （ 500ppm以下）
测试或条件
热冲击， 5× （ - 65 ° C至+ 200 ° C）
低温运行， - 65℃ ，在额定功率45分钟
耐湿性
负载寿命稳定， + 200℃的工作功率2000小时（见表4）
长期稳定性， + 225 ℃下2000小时，无需电源。
(1)
(2)
笔记
得到的陶瓷PCB表演。
如图所示+ 0.01
以允许在低的值的测量误差。
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FRSH系列（ 0603 ， 0805 ， 1206 ， 1506 ， 2010 ， 2512 ） （ Z1箔）
Vishay箔电阻
图3 - 推荐安装
笔记
(1)
红外线和汽相回流焊建议。
(2)
避免使用清洁剂的可能攻击环氧树脂，其形成部分
电阻器建设
(3)
真空拾取被推荐用于处理
(4)
在使用钎焊烙铁，测量应采取预防措施，以避免
损坏的电阻
脉冲测试
测试说明
所有份烘烤在+ 125 ℃下进行1小时，并使其冷却，在室温
下放置1小时，在测试之前。通过使用电解
0.01μF电容充电至1200伏，单脉
对30个单位的1206表面， 10K山Vishay箔进行
电阻和薄膜电阻。该装置被允许的时间冷却
下来，在这之后的电阻测量取和
从初始读数以ppm偏差。
图4 - 脉冲测试说明
2
" ＃
*+
!)
测试结果
图5 - 脉冲测试结果在1200 VDC *
140000
120000
100000
薄膜
ΔR （ PPM ）
80000
60000
40000
20000
0
-20000
大宗金属
铝箔
尺寸： 1206
价值： 10K
n = 30
0
5
10
15
电阻＃
20
25
30
*注： 30个单位的平均，得到的30723 ppm的偏差
薄膜与-14 PPM为大宗金属
铝箔
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静电放电（ ESD ）
ESD可分为三种类型的损害赔偿
参数失效
- 发生在ESD事件改变一个或多个
器件参数（电阻在电阻器的情况下） ，使其
从它的公差要求转移。这种故障不直接涉及
以功能;因而一个参数失效可以存在，而
设备仍然正常工作。
灾难性的破坏
- 发生在ESD事件引起的
设备立即停止运行。一个或这之后，可能会发生
若干具有不同的原因，如人体ESD事件
放电或静电场的存在本身。
隐性伤害
- 发生在ESD事件导致中度
损坏设备，这是不显着的，因为该设备出现
要正常。然而，该装置的负载寿命有
被显着降低，并进一步退化引起的
工作压力可能导致设备的服务过程中失败。
潜在的伤害源最关心的问题，因为它是非常
难以通过重新测量或通过目视检查来检测，因为
损害可能已经在外墙涂料的发生。
测试说明
通过使用电解500 pF电容充电至4500 V，
脉冲，对10个单位的1206年， 10 k三个组别进行
不同的表面贴装片式电阻器的技术，最初的
2500 V（图6 ），电压尖峰。该装置被允许的时间冷却
下来，在这之后的电阻测量取和
从初始读数以ppm偏差。阅读者
然后取在500伏的增量高达4500 V.表5示出了
最大漂移每个组中。
新
- 对于ESD脉冲的现场演示，请访问我们的新
视频登陆页面：
http://www.vishaypg.com/foil-resistors/videos/
测试结果
图6 - ESD测试说明
2500 V 4500 V
1 MΩ
500 pF的
Rx
DMM
表5 - ESD测试结果
伏
2500
3000
3500
4000
4500
R
(%)
厚膜
-2.7
-4.2
-6.2
-7.4
-8.6
薄膜
97
366
>5000
>5000
开放
铝箔
<0.005
<0.005
<0.005
<0.005
<0.005
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