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双P沟道
增强型MOSFET
通用扩增fi er
3N190 / 3N191
特点
公司
非常高的输入阻抗
高栅极击穿3N190-3N191
低电容
引脚配置
绝对最大额定值
(T
A
= 25
o
C除非另有说明)
漏源极或漏极,栅极电压(注1 )
3N190 , 3N191 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 40V
瞬态栅源电压(注1和2)。 。 。 。 。 。 。
±125V
栅栅电压。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。
±80V
漏电流(注1) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 50毫安
储存温度。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65
o
C至+200
o
C
工作温度。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -55
o
C至+150
o
C
引线温度(焊接, 10秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 +300
o
C
功耗
一个侧面。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 300mW的
两侧。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 525mW
降额合计超过25
o
C. 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 4.2MW /
o
C
注意:
超出上述"Absolute最大上市
Ratings"可能对器件造成永久性损坏。这些都是
值仅为设备的这些功能操作或
上面的任何其他条件的业务部门所标明
规格是不是暗示。暴露在绝对最大
额定条件下长时间工作会影响器件的可靠性。
TO-99
C
2506
D2
S2
G2
D1
S1
G1
订购信息
部分
温度范围
-55
o
C至+150
o
C
-55
o
C至+150
o
C
3N190-91密封TO- 99
X3N190-91排序芯片载体
电气特性
(T
A
= 25
o
C和V
BS
= 0,除非另有规定)
符号
I
GSSR
I
GSSF
BV
DSS
BV
SDS
V
GS ( TH)
V
GS
I
DSS
I
SDS
r
DS ( ON)
I
D(上)
参数
门反向电流
门正向电流
漏源击穿电压
源极 - 漏极击穿电压
阈值电压
门源电压
零栅极电压漏极电流
源漏电流
漏源导通电阻
在漏极电流
-5.0
-40
-40
-2.0
-2.0
-3.0
-5.0
-5.0
-6.5
-200
-400
300
-30.0
mA
V
3N190/91
最大
10
-10
-25
I
D
= -10A
I
S
= -10μA ,V
BD
= 0
V
DS
= -15V ,我
D
= -10A
V
DS
= V
GS
, I
D
= -10A
V
DS
= -15V ,我
D
= -500A
V
DS
= -15V
V
SD
= -15V, V
DB
= 0
V
DS
= -20V ,我
D
= -100A
V
DS
= -15V, V
GS
= -10V
pA
V
GS
= 40V
V
GS
= -40V
T
A
= +125
o
C
单位
测试条件
3N190 / 3N191
公司
电气特性
(续) (T
A
= 25
o
C和V
BS
= 0,除非另有规定)
符号
g
fs
Y
os
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
参数
正向跨导(注3 )
输出导纳
输入电容输出短路(注5 )
反向传输电容(注5 )
输出电容输入端短接(注5 )
3N190/91
最小最大
1500 4000
300
4.5
1.0
3.0
pF
单位
S
V
DS
= -15V ,我
D
= -10mA
F = 1MHz的
测试条件
F = 1kHz时
开关特性
(T
A
= 25
o
C和V
BS
= 0,除非另有规定)
符号
t
D(上)
t
r
t
关闭
参数
打开延迟时间
上升时间
关闭时间
最大
15
30
50
ns
V
DD
= -15V ,我
D
= -10mA ,R
G
= R
L
= 1.4kΩ (注5 )
单位
测试条件
匹配特性
(T
A
= 25
o
C和V
BS
= 0,除非另有规定) 3N188和3N190
符号
Y
fs1
/ Y
fs2
V
GS1-2
V
GS1
2
T
V
GS1
2
T
注:1 。
2.
3.
4.
5.
参数
正向跨导率
门源门限电压差分
门源门限电压差分
随温度的变化(注4 )
门源门限电压差分
随温度的变化(注4 )
每个晶体管。
大约增加一倍,每10
o
增加T中
A
.
脉冲测试持续时间= 300μS ;占空比
≤3%.
测量结束点,T
A
和T
B
.
仅供设计参考,未经100%测试。
0.85
最大
1.0
100
100
100
mV
V/
o
C
V/
o
C
单位
测试条件
V
DS
= -15V ,我
D
= -500μA中,f = 1kHz时
V
DS
= -15V ,我
D
= -500A
V
DS
= -15V ,我
D
= -500A,
T = -55
o
C TO +25
o
C
V
DS
= -15V ,我
D
= -500A
T = +25
o
C至+ 125
o
C
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    电话:0755-82780082
    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

    X3N190-91
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