怀特电子设计
0 ° C≤牛逼
A
≤ + 70°C ; V
CC
, V
CCQ
= +2.5V ±0.2V
WV3EG232M64EFSU-D4
先进
I
DD
规格和条件
最大
参数/条件
工作电流 - 一家银行主动预充电;吨
RC
= t
RC
(分钟) ;吨
CK
= 100Mhz的为DDR200 ,
133MHz的的DDR266A & DDR266B ; DQ , DM和DQS输入每个时钟周期改变的两倍;
地址和控制输入,每个时钟周期改变一次
工作电流 - 一家银行的操作;一家银行开放, BL = 4 ,读取 - 请参阅以下
详细的测试条件页
Percharge掉电待机电流;所有银行闲置;掉电模式; CKE ≤ V
IL
(MAX) ;吨
CK
= 100Mhz的为DDR200 , 133Mhz的为DDR266A & DDR266B ; V
IN
= V
REF
针对DQ , DQS和DM
预充电浮动待机电流; CS # ≥ V
IH
(分钟) ;所有的银行闲置; CKE ≥ V
IH
(分钟) ;吨
CK
=
为100Mhz的DDR200 , 133Mhz的为DDR266A & DDR266B ;地址和其它控制输入
每个时钟周期改变一次; V
IN
= V
REF
针对DQ , DQS和DM
预充电静音待机电流; CS # ≥ V
IH
(分钟) ;所有银行闲置; CKE ≥ V
IH
(分钟) ;吨
CK
= 100MHz的
为DDR200 , 133Mhz的为DDR266A & DDR266B ;地址和其它控制输入与稳定
保持≥ V
IH
(分钟)或≤ V
IL
(MAX) ; V
IN
= V
REF
针对DQ , DQS和DM
有功功率 - 下待机电流;一家银行主动;掉电模式; CKE ≤ VIL (最大值) ;
t
CK
= 100Mhz的为DDR200 , 133Mhz的为DDR266A & DDR266B ; V
IN
= V
REF
针对DQ , DQS和DM
当前待机电流; CS # ≥ V
IH
(分钟) ; CKE ≥ V
IH
(分钟) ;一家银行主动;主动 - 预充电;
t
RC
= t
RAS
(MAX) ;吨
CK
= 100Mhz的为DDR200 , 133Mhz的为DDR266A & DDR266B ; DQ , DQS和
DM输入每个时钟周期改变的两倍;地址和其它控制输入改变每一次
时钟周期
工作电流 - 突发读取;突发长度= 2 ;读取; continguous爆裂;一家银行主动;
地址和控制输入,每个时钟周期改变一次; CL = 2在t
CK
= 100Mhz的为DDR200 ,
CL = 2在t
CK
= 133Mhz的为DDR266A , CL = 2.5在t
CK
= 133Mhz的为DDR266B ;数据的50%的
改变在每一个突发的;升
OUT
= 0毫安
工作电流 - 突发写入;突发长度= 2 ;写;连拍;一个活跃的银行
地址和控制输入,每个时钟周期改变一次; CL = 2在t
CK
= 100Mhz的为DDR200 ,
CL = 2在t
CK
= 133Mhz的为DDR266A , CL = 2.5在t
CK
= 133Mhz的为DDR266B ; DQ , DM和
DQS的输入变化的两倍,每个时钟周期,输入数据的50%的变化,在每个脉冲串
自动刷新电流;吨
RC
= t
RFC
(分钟) - 8 * T
CK
对于DDR200在100MHz , 10 * T
CK
对于DDR266A &
DDR266B在133Mhz的;分布式刷新
自刷新电流; CKE ≤ 0.2V ;外部时钟应该是;吨
CK
= 100Mhz的为DDR200 ,
133MHz的的DDR266A & DDR266B
Orerating电流 - 四大银行的操作;四大银行, BL = 4的交织
- 请参阅以下页面进行详细的测试条件
符号
I
DD0
DDR333
@CL=2.5
1160
DDR266
@CL=2
1000
DDR266
@CL=2.5
1000
单位
mA
I
DD1
I
DD2P
I
DD2F
1360
48
400
1200
48
320
1200
48
320
mA
mA
mA
I
DD2Q
320
290
290
mA
I
DD3P
I
DD3N
560
880
480
720
480
720
mA
mA
I
DD4R
1720
1480
1480
mA
I
DD4W
1720
1440
1440
mA
I
DD5
I
DD6
I
DD7A
1800
48
2680
1640
48
2360
1640
48
2360
mA
mA
mA
注:我
DD
特定网络阳离子是基于三星的组件。其它DRAM制造商特定网络连接的阳离子可以是不同的。
2005年4月
第0版
5
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