怀特电子设计
128K
X
32 SRAM /闪存模块
特点
■
25ns的( SRAM )和70 , 90和120ns的访问时间
( FLASH )
■
包装:
?? 66针, PGA型, 1.385英寸见方的髋关节,全封闭
陶瓷HIP ( 402包)
■
128Kx32 SRAM
■
128Kx32 5V闪存
■
组织为SRAM和128Kx32的128Kx32
闪存与普通数据总线
■
低功耗CMOS
■
商用,工业和军用温度范围
■
TTL兼容的输入和输出
■
内置的去耦电容和多接地引脚
对于低噪音运行
■
重量 - 13克典型
初步*
WSF128K32-XH2X
FLASH内存功能
■
万次擦除/编程
■
部门架构
??每个16K字节等于8部门规模
行业的任何组合可以同时
删除。还支持整片擦除
■
5伏编程; 5V ±10 %电源
■
嵌入式擦除和编程算法
■
硬件写保护
■
页编程操作和内部程序
控制时间。
*此数据表描述了正在研发的产品,不能完全
特点,并随时更改,恕不另行通知。
注:编程可应要求提供的资料。
图。 1
1
I / O
8
I / O
9
I / O
10
A
14
A
16
A
11
A
0
NC
I / O
0
I / O
1
I / O
2
11
22
12
引脚配置WSF128K32 , XH2X
T
OP
V
IEW
23
FWE
2
SWE
2
GND
I / O
11
A
10
A
9
A
15
V
CC
FCS
SCS
I / O
3
33
I / O
15
I / O
14
I / O
13
I / O
12
OE
NC
FWE
1
I / O
7
I / O
6
I / O
5
I / O
4
I / O
24
I / O
25
I / O
26
A
7
A
12
SWE
1
A
13
A
8
I / O
16
I / O
17
I / O
18
44
34
V
CC
SWE
4
FWE
4
I / O
27
A
4
A
5
A
6
FWE
3
SWE
3
GND
I / O
19
55
45
I / O
31
I / O
30
I / O
29
I / O
28
A
1
A
2
A
3
I / O
23
I / O
22
I / O
21
I / O
20
66
OE
A0-16
SCS
FCS
FWE
1
SWE
1
56
P
IN
D
ESCRIPTION
D
0-31
A
0-16
SWE
1-4
SCS
OE
V
CC
GND
NC
FWE
1-4
FCS
数据输入/输出
地址输入
SRAM写入启用
SRAM芯片选择
OUTPUT ENABLE
电源
地
没有连接
闪存写入启用
FLASH的片选
B
LOCK
D
IAGRAM
FWE
2
SWE
2
FWE
3
SWE
3
FWE
4
SWE
4
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
I/O0-7
I/O8-15
I/O16-23
I/O24-31
2002年10月第4版
1
怀特电子设计公司 ( 602 ) 437-1520 www.whiteedc.com
怀特电子设计
A
BSOLUTE
M
AXIMUM
R
ATINGS
参数
工作温度
储存温度
信号电压相对于GND
结温
电源电压
参数
闪存数据保留
闪存耐久性(写入/擦除周期)
10年
10,000
TEST
OE电容
F / S WE 1-4电容
F / S CS电容
D
0
-
31
电容
单位
V
V
V
A
0
- A
16
电容
符号
T
A
T
英镑
V
G
T
J
V
CC
-0.5
民
-55
-65
-0.5
最大
+125
+150
7.0
150
7.0
单位
°C
°C
V
°C
V
SCS
H
L
L
L
OE
X
L
H
X
SWE
X
H
H
L
WSF128K32-XH2X
SRAM牛逼
RUTH
T
ABLE
模式
待机
读
读
写
数据I / O
高Z
数据输出
高Z
DATA IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
注意:
1. FCS必须保持高电平时SCS低。
C
APACITANCE
(T
A
= +25°C)
符号
C
OE
C
WE
C
CS
C
I
/
O
C
AD
条件
最大单位
pF
pF
pF
pF
pF
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的80
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的30
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的50
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的30
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的80
注意:
1.强调以上的绝对最大额定值可能会导致
永久损坏设备。在扩展操作
最高级别可能会降低性能并影响可靠性。
R
ECOMMENDED
O
操作摄像机
C
ONDITIONS
参数
电源电压
输入高电压
输入低电压
符号
V
CC
V
IH
V
IL
民
4.5
2.2
-0.5
最大
5.5
V
CC
+ 0.3
+0.8
此参数由设计保证,但未经测试。
DC
极特
(V
CC
= 5.0V, V
SS
= 0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
参数
输入漏电流
输出漏电流
SRAM的工作电源电流×32模式
待机电流
SRAM输出低电压
SRAM输出高电压
闪光V
CC
工作电流为读( 1 )
闪光V
CC
工作电流为程序或
擦除( 2 )
闪光输出低电压
闪光输出高电压
闪光输出高电压
闪光低V
CC
锁定电压
符号
I
LI
I
LO
I
CCx32
I
SB
V
OL
V
OH
I
CC1
I
CC2
V
OL
V
OH1
V
OH2
V
LKO
条件
V
CC
= 5.5, V
IN
= GND到V
CC
SCS = V
IH
, OE = V
IH ,
V
OUT
= GND到V
CC
SCS = V
IL
, OE = FCS = V
IH ,
F = 5MHz时,V
CC
= 5.5
FCS = SCS = V
IH
, OE = V
IH ,
F = 5MHz时,V
CC
= 5.5
I
OL
= 8毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -4.0mA ,V
CC
= 4.5
FCS = V
IL
, OE = SCS = V
IH
FCS = V
IL
, OE = SCS = V
IH
I
OL
= 8.0毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -2.5毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -100 μA ,V
CC
= 4.5
0.85× V
CC
V
CC
-0.4
3.2
2.4
220
280
0.45
民
最大
10
10
670
80
0.4
单位
A
A
mA
mA
V
V
mA
mA
V
V
V
V
注意事项:
1.我
CC
目前上市的包括直流工作电流和频率相关元件( @ 5兆赫) 。
的频率分量通常是小于2mA /兆赫,使用OE在V
IH
.
2. I
CC
积极而嵌入算法(编程或擦除)正在进行中。
3.直流测试条件: V
IL
= 0.3V, V
IH
= V
CC
- 0.3V
怀特电子设计公司亚利桑那州凤凰城 ( 602 ) 437-1520
2
怀特电子设计
SRAM交流特性
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
参数
读周期
读周期时间
地址访问时间
从地址变更输出保持
芯片选择访问时间
输出使能到输出有效
片选到输出中低Z
输出使能到输出中低Z
芯片禁用高Z输出
输出禁止到输出中高Z
t
RC
t
AA
t
OH
t
ACS
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
CHZ
1
1
1
WSF128K32-XH2X
SRAM交流特性
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
单位
参数
写周期
ns
写周期时间
片选写的结束
地址有效到写结束
数据有效到写结束
把脉冲宽度
地址建立时间
地址保持时间
输出写入结束活动
写使能到输出中高Z
从时间写数据保持
t
WC
t
CW
t
AW
t
DW
t
WP
t
AS
t
AH
t
OW
1
t
WHZ
1
t
DH
0
ns
ns
ns
ns
ns
ns
符号
民
25
20
20
15
20
0
0
3
15
-25
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
符号
民
25
-25
最大
25
0
25
15
3
0
12
12
ns
ns
t
OHZ
1
1.此参数由设计保证,但未经测试。
1.此参数由设计保证,但未经测试。
图。 2
AC测试电路
参数
I
OL
电流源
AC牛逼
美东时间
C
ONDITIONS
典型值
V
IL
= 0, V
IH
= 3.0
5
1.5
1.5
单位
V
ns
V
V
输入脉冲电平
输入兴衰
输入和输出参考电平
输出时序参考电平
D.U.T.
C
EFF
= 50 pF的
V
Z
≈
1.5V
(双极性电源供电)
I
OH
电流源
注意事项:
V
Z
的可编程范围为-2V至+ 7V 。
I
OL
&放大器;我
OH
可编程从0到16毫安。
测试仪抗Z
0
= 75
W.
V
Z
通常Ⅴ的中点
OH
和V
OL
.
I
OL
&放大器;我
OH
被调整,以模拟典型的电阻性负载电路。
ATE测试仪包括夹具电容。
3
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怀特电子设计
图。 3 SRAM
时序波形 - 读周期
WSF128K32-XH2X
t
RC
地址
t
AA
SCS
t
RC
地址
t
ACS
t
CLZ
国有企业
t
CHZ
t
AA
t
OH
数据I / O
以前的数据有效
数据有效
t
OE
t
OLZ
数据I / O
高阻抗
t
OHZ
数据有效
读周期1 , ( SCS = OE = V
IL
, SWE = FCS = V
IH
)
读周期2 ( SWE = FCS = V
IH
)
图。 4 SRAM
写周期 - SWE控制下的
t
WC
地址
t
AW
t
CW
SCS
t
AH
t
AS
SWE
t
WP
t
OW
t
WHZ
t
DW
t
DH
数据I / O
数据有效
写周期1 , SWE控( FCS = V
IH
)
图。 5 SRAM
写周期 - SCS控制下的
t
WC
地址
WS32K32-XHX
t
CW
t
AH
t
AS
SCS
t
AW
t
WP
SWE
t
DW
数据I / O
数据有效
t
DH
写周期2 , SCS控( FCS = V
IH
)
怀特电子设计公司亚利桑那州凤凰城 ( 602 ) 437-1520
4
怀特电子设计
WSF128K32-XH2X
FLASH AC - C
极特
W
RITE
/E
RASE
/P
ROGRAM
O
PERATIONS
, FWE
ONTROLLED
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
参数
写周期时间
片选建立时间
写使能脉冲宽度
地址建立时间
数据建立时间
数据保持时间
地址保持时间
芯片选择保持时间
写使能脉冲宽度高
的字节编程操作时间(min )
芯片和扇区擦除时间
阅读恢复时间之前写
V
CC
建立时间
芯片编程时间
输出使能设置时间
输出使能保持时间( 1 )
1.对于切换和数据查询。
t
OES
t
OEH
0
10
符号
民
t
AVAV
t
ELWL
t
WLWH
t
AVWL
t
DVWH
t
WHDX
t
WLAX
t
WHEH
t
WHWL
t
WHWH1
t
WHWH2
t
GHWL
t
VCS
t
WC
t
CS
t
WP
t
AS
t
DS
t
DH
t
AH
t
CH
t
WPH
70
0
35
0
30
0
45
0
20
14
2.2
0
50
12.5
0
10
60
-70
最大
民
90
0
45
0
45
0
45
0
20
14
2.2
0
50
12.5
0
10
60
-90
最大
民
120
0
50
0
50
0
50
0
20
14
2.2
0
50
12.5
60
-120
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
美国证券交易委员会
s
s
美国证券交易委员会
ns
ns
单位
FLASH AC - C
极特
R
EAD
O
NLY
O
PERATIONS
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
参数
读周期时间
地址访问时间
芯片选择访问时间
OE到输出有效
芯片选择到输出高Z( 1 )
OE高到输出高Z( 1 )
从报告中, FCS或OE变化输出保持,
取其科幻RST
1.由设计保证,未经测试。
符号
民
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
t
AXQX
t
RC
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
t
OH
0
70
70
70
35
20
20
0
-70
最大
民
90
90
90
40
25
25
0
-90
最大
民
120
120
120
50
30
30
ns
-120
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
5
怀特电子设计公司 ( 602 ) 437-1520 www.whiteedc.com
怀特电子设计
128K
X
32 SRAM /闪存模块
特点
■
25ns的( SRAM )和70 , 90和120ns的访问时间
( FLASH )
■
包装:
?? 66针, PGA型, 1.385英寸见方的髋关节,全封闭
陶瓷HIP ( 402包)
■
128Kx32 SRAM
■
128Kx32 5V闪存
■
组织为SRAM和128Kx32的128Kx32
闪存与普通数据总线
■
低功耗CMOS
■
商用,工业和军用温度范围
■
TTL兼容的输入和输出
■
内置的去耦电容和多接地引脚
对于低噪音运行
■
重量 - 13克典型
初步*
WSF128K32-XH2X
FLASH内存功能
■
万次擦除/编程
■
部门架构
??每个16K字节等于8部门规模
行业的任何组合可以同时
删除。还支持整片擦除
■
5伏编程; 5V ±10 %电源
■
嵌入式擦除和编程算法
■
硬件写保护
■
页编程操作和内部程序
控制时间。
*此数据表描述了正在研发的产品,不能完全
特点,并随时更改,恕不另行通知。
注:编程可应要求提供的资料。
图。 1
1
I / O
8
I / O
9
I / O
10
A
14
A
16
A
11
A
0
NC
I / O
0
I / O
1
I / O
2
11
22
12
引脚配置WSF128K32 , XH2X
T
OP
V
IEW
23
FWE
2
SWE
2
GND
I / O
11
A
10
A
9
A
15
V
CC
FCS
SCS
I / O
3
33
I / O
15
I / O
14
I / O
13
I / O
12
OE
NC
FWE
1
I / O
7
I / O
6
I / O
5
I / O
4
I / O
24
I / O
25
I / O
26
A
7
A
12
SWE
1
A
13
A
8
I / O
16
I / O
17
I / O
18
44
34
V
CC
SWE
4
FWE
4
I / O
27
A
4
A
5
A
6
FWE
3
SWE
3
GND
I / O
19
55
45
I / O
31
I / O
30
I / O
29
I / O
28
A
1
A
2
A
3
I / O
23
I / O
22
I / O
21
I / O
20
66
OE
A0-16
SCS
FCS
FWE
1
SWE
1
56
P
IN
D
ESCRIPTION
D
0-31
A
0-16
SWE
1-4
SCS
OE
V
CC
GND
NC
FWE
1-4
FCS
数据输入/输出
地址输入
SRAM写入启用
SRAM芯片选择
OUTPUT ENABLE
电源
地
没有连接
闪存写入启用
FLASH的片选
B
LOCK
D
IAGRAM
FWE
2
SWE
2
FWE
3
SWE
3
FWE
4
SWE
4
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
I/O0-7
I/O8-15
I/O16-23
I/O24-31
2002年10月第4版
1
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怀特电子设计
A
BSOLUTE
M
AXIMUM
R
ATINGS
参数
工作温度
储存温度
信号电压相对于GND
结温
电源电压
参数
闪存数据保留
闪存耐久性(写入/擦除周期)
10年
10,000
TEST
OE电容
F / S WE 1-4电容
F / S CS电容
D
0
-
31
电容
单位
V
V
V
A
0
- A
16
电容
符号
T
A
T
英镑
V
G
T
J
V
CC
-0.5
民
-55
-65
-0.5
最大
+125
+150
7.0
150
7.0
单位
°C
°C
V
°C
V
SCS
H
L
L
L
OE
X
L
H
X
SWE
X
H
H
L
WSF128K32-XH2X
SRAM牛逼
RUTH
T
ABLE
模式
待机
读
读
写
数据I / O
高Z
数据输出
高Z
DATA IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
注意:
1. FCS必须保持高电平时SCS低。
C
APACITANCE
(T
A
= +25°C)
符号
C
OE
C
WE
C
CS
C
I
/
O
C
AD
条件
最大单位
pF
pF
pF
pF
pF
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的80
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的30
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的50
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的30
V
IN
= 0V , F = 1.0MHz的80
注意:
1.强调以上的绝对最大额定值可能会导致
永久损坏设备。在扩展操作
最高级别可能会降低性能并影响可靠性。
R
ECOMMENDED
O
操作摄像机
C
ONDITIONS
参数
电源电压
输入高电压
输入低电压
符号
V
CC
V
IH
V
IL
民
4.5
2.2
-0.5
最大
5.5
V
CC
+ 0.3
+0.8
此参数由设计保证,但未经测试。
DC
极特
(V
CC
= 5.0V, V
SS
= 0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
参数
输入漏电流
输出漏电流
SRAM的工作电源电流×32模式
待机电流
SRAM输出低电压
SRAM输出高电压
闪光V
CC
工作电流为读( 1 )
闪光V
CC
工作电流为程序或
擦除( 2 )
闪光输出低电压
闪光输出高电压
闪光输出高电压
闪光低V
CC
锁定电压
符号
I
LI
I
LO
I
CCx32
I
SB
V
OL
V
OH
I
CC1
I
CC2
V
OL
V
OH1
V
OH2
V
LKO
条件
V
CC
= 5.5, V
IN
= GND到V
CC
SCS = V
IH
, OE = V
IH ,
V
OUT
= GND到V
CC
SCS = V
IL
, OE = FCS = V
IH ,
F = 5MHz时,V
CC
= 5.5
FCS = SCS = V
IH
, OE = V
IH ,
F = 5MHz时,V
CC
= 5.5
I
OL
= 8毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -4.0mA ,V
CC
= 4.5
FCS = V
IL
, OE = SCS = V
IH
FCS = V
IL
, OE = SCS = V
IH
I
OL
= 8.0毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -2.5毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -100 μA ,V
CC
= 4.5
0.85× V
CC
V
CC
-0.4
3.2
2.4
220
280
0.45
民
最大
10
10
670
80
0.4
单位
A
A
mA
mA
V
V
mA
mA
V
V
V
V
注意事项:
1.我
CC
目前上市的包括直流工作电流和频率相关元件( @ 5兆赫) 。
的频率分量通常是小于2mA /兆赫,使用OE在V
IH
.
2. I
CC
积极而嵌入算法(编程或擦除)正在进行中。
3.直流测试条件: V
IL
= 0.3V, V
IH
= V
CC
- 0.3V
怀特电子设计公司亚利桑那州凤凰城 ( 602 ) 437-1520
2
怀特电子设计
SRAM交流特性
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
参数
读周期
读周期时间
地址访问时间
从地址变更输出保持
芯片选择访问时间
输出使能到输出有效
片选到输出中低Z
输出使能到输出中低Z
芯片禁用高Z输出
输出禁止到输出中高Z
t
RC
t
AA
t
OH
t
ACS
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
CHZ
1
1
1
WSF128K32-XH2X
SRAM交流特性
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
单位
参数
写周期
ns
写周期时间
片选写的结束
地址有效到写结束
数据有效到写结束
把脉冲宽度
地址建立时间
地址保持时间
输出写入结束活动
写使能到输出中高Z
从时间写数据保持
t
WC
t
CW
t
AW
t
DW
t
WP
t
AS
t
AH
t
OW
1
t
WHZ
1
t
DH
0
ns
ns
ns
ns
ns
ns
符号
民
25
20
20
15
20
0
0
3
15
-25
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
符号
民
25
-25
最大
25
0
25
15
3
0
12
12
ns
ns
t
OHZ
1
1.此参数由设计保证,但未经测试。
1.此参数由设计保证,但未经测试。
图。 2
AC测试电路
参数
I
OL
电流源
AC牛逼
美东时间
C
ONDITIONS
典型值
V
IL
= 0, V
IH
= 3.0
5
1.5
1.5
单位
V
ns
V
V
输入脉冲电平
输入兴衰
输入和输出参考电平
输出时序参考电平
D.U.T.
C
EFF
= 50 pF的
V
Z
≈
1.5V
(双极性电源供电)
I
OH
电流源
注意事项:
V
Z
的可编程范围为-2V至+ 7V 。
I
OL
&放大器;我
OH
可编程从0到16毫安。
测试仪抗Z
0
= 75
W.
V
Z
通常Ⅴ的中点
OH
和V
OL
.
I
OL
&放大器;我
OH
被调整,以模拟典型的电阻性负载电路。
ATE测试仪包括夹具电容。
3
怀特电子设计公司 ( 602 ) 437-1520 www.whiteedc.com
怀特电子设计
图。 3 SRAM
时序波形 - 读周期
WSF128K32-XH2X
t
RC
地址
t
AA
SCS
t
RC
地址
t
ACS
t
CLZ
国有企业
t
CHZ
t
AA
t
OH
数据I / O
以前的数据有效
数据有效
t
OE
t
OLZ
数据I / O
高阻抗
t
OHZ
数据有效
读周期1 , ( SCS = OE = V
IL
, SWE = FCS = V
IH
)
读周期2 ( SWE = FCS = V
IH
)
图。 4 SRAM
写周期 - SWE控制下的
t
WC
地址
t
AW
t
CW
SCS
t
AH
t
AS
SWE
t
WP
t
OW
t
WHZ
t
DW
t
DH
数据I / O
数据有效
写周期1 , SWE控( FCS = V
IH
)
图。 5 SRAM
写周期 - SCS控制下的
t
WC
地址
WS32K32-XHX
t
CW
t
AH
t
AS
SCS
t
AW
t
WP
SWE
t
DW
数据I / O
数据有效
t
DH
写周期2 , SCS控( FCS = V
IH
)
怀特电子设计公司亚利桑那州凤凰城 ( 602 ) 437-1520
4
怀特电子设计
WSF128K32-XH2X
FLASH AC - C
极特
W
RITE
/E
RASE
/P
ROGRAM
O
PERATIONS
, FWE
ONTROLLED
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
参数
写周期时间
片选建立时间
写使能脉冲宽度
地址建立时间
数据建立时间
数据保持时间
地址保持时间
芯片选择保持时间
写使能脉冲宽度高
的字节编程操作时间(min )
芯片和扇区擦除时间
阅读恢复时间之前写
V
CC
建立时间
芯片编程时间
输出使能设置时间
输出使能保持时间( 1 )
1.对于切换和数据查询。
t
OES
t
OEH
0
10
符号
民
t
AVAV
t
ELWL
t
WLWH
t
AVWL
t
DVWH
t
WHDX
t
WLAX
t
WHEH
t
WHWL
t
WHWH1
t
WHWH2
t
GHWL
t
VCS
t
WC
t
CS
t
WP
t
AS
t
DS
t
DH
t
AH
t
CH
t
WPH
70
0
35
0
30
0
45
0
20
14
2.2
0
50
12.5
0
10
60
-70
最大
民
90
0
45
0
45
0
45
0
20
14
2.2
0
50
12.5
0
10
60
-90
最大
民
120
0
50
0
50
0
50
0
20
14
2.2
0
50
12.5
60
-120
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
美国证券交易委员会
s
s
美国证券交易委员会
ns
ns
单位
FLASH AC - C
极特
R
EAD
O
NLY
O
PERATIONS
(V
CC
= 5.0V ,T
A
= -55°C
TO
+125°C)
参数
读周期时间
地址访问时间
芯片选择访问时间
OE到输出有效
芯片选择到输出高Z( 1 )
OE高到输出高Z( 1 )
从报告中, FCS或OE变化输出保持,
取其科幻RST
1.由设计保证,未经测试。
符号
民
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
t
AXQX
t
RC
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
t
OH
0
70
70
70
35
20
20
0
-70
最大
民
90
90
90
40
25
25
0
-90
最大
民
120
120
120
50
30
30
ns
-120
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
5
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怀特电子设计
128K
X
32 SRAM /闪存模块
特点
25ns的存取时间( SRAM )和70 , 90和
为120ns ( FLASH )
包装:
66针, PGA型, 1.385英寸见方的臀部,
密封陶瓷HIP ( 402包)
128Kx32 SRAM
128Kx32 5V闪存
组织为SRAM和128Kx32的128Kx32
闪存与普通数据总线
低功耗CMOS
商用,工业和军用温度
范围
TTL兼容的输入和输出
内置的去耦电容和多接地引脚
对于低噪音运行
重量 - 13克典型
WSF128K32-XH2X
初步*
FLASH内存功能
万次擦除/编程
部门架构
??每个16K字节等于8部门规模
行业的任何组合可以同时
删除。还支持整片擦除
5伏编程; 5V ±10 %电源
嵌入式擦除和编程算法
硬件写保护
页编程操作和内部程序
控制时间。
*本产品正在开发中,没有充分的特点,并且可随时更改
恕不另行通知。
注:编程可应要求提供的资料。
图1 - 引脚配置WSF128K32 , XH2X
顶视图
1
I / O
8
I / O
9
I / O
10
A
14
A
16
A
11
A
0
NC
I / O
0
I / O
1
I / O
2
11
22
12
FWE
2
#
SWE
2
#
GND
I / O
11
A
10
A
9
A
15
V
CC
FCS #
SCS #
I / O
3
33
23
I / O
15
I / O
14
I / O
13
I / O
12
OE #
NC
FWE
1
#
I / O
7
I / O
6
I / O
5
I / O
4
I / O
24
I / O
25
I / O
26
A
7
A
12
SWE
1
#
A
13
A
8
I / O
16
I / O
17
I / O
18
44
34
V
CC
SWE
4
#
FWE
4
#
I / O
27
A
4
A
5
A
6
FWE
3
#
SWE
3
#
GND
I / O
19
55
45
I / O
31
I / O
30
I / O
29
I / O
28
A
1
A
2
A
3
FWE
1
#
SWE
1
#
引脚说明
56
D0-31
A0-16
SWE1-4#
SCS #
OE #
V
CC
GND
NC
FWE1-4#
FCS #
数据输入/输出
地址输入
SRAM写使能
SRAM芯片选择
OUTPUT ENABLE
电源
地
没有连接
Flash写使能
FLASH的片选
框图
FWE
2
#
SWE
2
#
FWE
3
#
SWE
3
#
FWE
4
#
SWE
4
#
OE #
A
0-16
SCS #
FCS #
I / O
23
I / O
22
I / O
21
I / O
20
66
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
128K ×8闪存
128K ×8 SRAM
I / O
0-7
I / O
8-15
I / O
16-23
I / O
24-31
怀特电子设计公司保留更改产品或特定网络阳离子,恕不另行通知。
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怀特电子设计
绝对最大额定值
参数
工作温度
储存温度
信号电压相对于GND
结温
电源电压
符号
T
A
T
英镑
V
G
T
J
V
CC
民
-55
-65
-0.5
-0.5
最大
+125
+150
7.0
150
7.0
单位
°C
°C
V
°C
V
SCS #
H
L
L
L
OE #
X
L
H
X
WSF128K32-XH2X
初步
SRAM真值表
SWE #
X
H
H
L
模式
待机
读
读
写
数据I / O
高Z
数据输出
高Z
DATA IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
注意:
1. FCS #必须保持高电平时SCS #低。
参数
闪存数据保留
闪存耐久性(写入/擦除周期)
10年
10,000
参数
OE #电容
F / S WE
1-4
#电容
F / S CS #电容
D
0-31
电容
A
0-16
电容
电容
TA = + 25°C
符号
C
OE
C
WE
C
CS
C
I / O
C
AD
条件
最大单位
V
IN
= 0 V , F = 1.0 MHz的80 pF的
V
IN
= 0 V , F = 1.0 MHz的30 pF的
V
IN
= 0 V , F = 1.0 MHz的50 pF的
V
IN
= 0 V , F = 1.0 MHz的30 pF的
V
IN
= 0 V , F = 1.0 MHz的80 pF的
注意:
1.强调以上的绝对最大额定值可能会造成永久性损坏
装置。延长运行在最高水平可能会降低性能,
影响可靠性。
推荐工作条件
参数
电源电压
输入高电压
输入低电压
符号
V
CC
V
IH
V
IL
民
4.5
2.2
-0.5
最大
5.5
V
CC
+ 0.3
+0.8
单位
V
V
V
此参数由设计保证,但未经测试。
DC特性
V
CC
= 5.0V, V
SS
= 0V , -55°C
≤
T
A
≤
+125°C
参数
输入漏电流
输出漏电流
SRAM的工作电源电流×32模式
待机电流
SRAM输出低电压
SRAM输出高电压
闪光V
CC
工作电流为读( 1 )
闪光V
CC
工作电流为程序或
擦除( 2 )
闪光输出低电压
闪光输出高电压
闪光输出高电压
闪光低V
CC
锁定电压
符号
I
LI
I
LO
I
CCx32
I
SB
V
OL
V
OH
I
CC1
I
CC2
V
OL
V
OH1
V
OH2
V
LKO
条件
V
CC
= 5.5, V
IN
= GND到V
CC
SCS # = V
IH
, OE # = V
IH
, V
OUT
= GND到V
CC
SCS # = V
IL
, OE # = FCS # = V
IH
中,f = 5MHz时,V
CC
= 5.5
FCS # = SCS # = V
IH
, OE # = V
IH
中,f = 5MHz时,V
CC
= 5.5
I
OL
= 8毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -4.0mA ,V
CC
= 4.5
FCS # = V
IL
, OE # = SCS # = V
IH
FCS # = V
IL
, OE # = SCS # = V
IH
I
OL
= 8.0毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -2.5毫安,V
CC
= 4.5
I
OH
= -100 μA ,V
CC
= 4.5
民
最大
10
10
670
80
0.4
220
280
0.45
0.85× V
CC
V
CC
-0.4
3.2
单位
A
A
mA
mA
V
V
mA
mA
V
V
V
V
2.4
注意事项:
1.我
CC
目前上市的包括直流工作电流和频率相关元件( @ 5兆赫) 。
的频率分量通常是小于2mA /兆赫,使用OE #在V
IH
.
2. I
CC
积极而嵌入算法(编程或擦除)正在进行中。
3.直流测试条件: V
IL
= 0.3V, V
IH
= V
CC
- 0.3V
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怀特电子设计
SRAM交流特性
V
CC
= 5.0V , -55°C
≤
T
A
≤
+125°C
参数
读周期
读周期时间
地址访问时间
从地址变更输出保持
芯片选择访问时间
输出使能到输出有效
片选到输出中低Z
输出使能到输出中低Z
芯片禁用高Z输出
输出禁止到输出中高Z
符号
民
t
RC
t
AA
t
OH
t
ACS
t
OE
t
CLZ
1
t
OLZ
1
t
CHZ
1
t
OHZ
1
25
25
0
25
15
3
0
12
12
-25
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
参数
写周期
WSF128K32-XH2X
初步
SRAM交流特性
V
CC
= 5.0V , -55°C
≤
T
A
≤
+125°C
符号
民
t
WC
t
CW
t
AW
t
DW
t
WP
t
AS
t
AH
t
OW
1
t
WHZ
1
t
DH
25
20
20
15
20
3
0
3
15
0
-25
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
1.此参数由设计保证,但未经测试。
写周期时间
片选写的结束
地址有效到写结束
数据有效到写结束
把脉冲宽度
地址建立时间
地址保持时间
输出写入结束活动
写使能到输出中高Z
从时间写数据保持
1.此参数由设计保证,但未经测试。
图2 - AC测试电路
AC测试条件
I
OL
电流源
D.U.T.
C
EFF
= 50 pF的
V
Z
≈ 1.5V
(双极性电源供电)
参数
输入脉冲电平
输入兴衰
输入和输出参考电平
输出时序参考电平
典型值
V
IL
= 0, V
IH
= 3.0
5
1.5
1.5
单位
V
ns
V
V
I
OH
电流源
注意事项:
V
Z
的可编程范围为-2V至+ 7V 。
I
OL
&放大器;我
OH
可编程从0到16毫安。
测试仪阻抗Z0 = 75 Ω 。
V
Z
通常Ⅴ的中点
OH
和V
OL
.
I
OL
&放大器;我
OH
被调整,以模拟典型的电阻性负载电路。
ATE测试仪包括夹具电容。
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WSF128K32-XH2X
初步
图3 - SRAM时序波形 - 读周期
t
RC
地址
t
AA
t
RC
地址
SCS #
t
ACS
t
AA
t
OH
SOE #
t
CHZ
t
CLZ
t
OE
t
OLZ
数据I / O
高阻抗
数据I / O
以前的数据有效
数据有效
t
OHZ
数据有效
读周期1 , ( SCS # = OE # = V
IL
, SWE # = FCS # = V
IH
)
读周期2 ( SWE # = FCS # = V
IH
)
图4 - SRAM写周期 - SWE #控制
t
WC
地址
t
AW
t
CW
SCS #
t
AH
t
AS
SWE #
t
WP
t
OW
t
WHZ
t
DW
数据有效
t
DH
数据I / O
写周期1 , SWE #控制( FCS # = V
IH
)
图5 - SRAM写周期 - SCS #控制
t
WC
地址
t
AS
SCS #
t
AW
t
CW
t
AH
t
WP
SWE #
t
DW
数据I / O
数据有效
t
DH
写周期2 , SCS #控制( FCS # = V
IH
)
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V
CC
= 5.0V , -55°C
≤
T
A
≤
+125°C
参数
写周期时间
片选建立时间
写使能脉冲宽度
地址建立时间
数据建立时间
数据保持时间
地址保持时间
芯片选择保持时间
写使能脉冲宽度高
的字节编程操作时间(min )
芯片和扇区擦除时间
阅读恢复时间之前写
V
CC
建立时间
芯片编程时间
输出使能设置时间
输出使能保持时间( 1 )
1.对于切换和数据#投票。
t
OES
t
OEH
0
10
t
AVAV
t
ELWL
t
WLWH
t
AVWL
t
DVWH
t
WHDX
t
WLAX
t
WHEH
t
WHWL
t
WHWH1
t
WHWH2
t
GHWL
t
VCS
符号
民
t
WC
t
CS
t
WP
t
AS
t
DS
t
DH
t
AH
t
CH
t
WPH
70
0
45
0
45
0
45
0
20
14
2.2
0
50
12.5
0
10
60
-70
最大
民
90
0
45
0
45
0
45
0
20
14
2.2
0
50
-90
WSF128K32-XH2X
初步
FLASH交流特性 - 写/擦除/编程操作, FWE #控制
-120
最大
民
120
0
50
0
50
0
50
0
20
14
60
2.2
0
50
12.5
0
10
12.5
60
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
美国证券交易委员会
s
s
美国证券交易委员会
ns
ns
单位
FLASH交流特性 - 读操作只有
V
CC
= 5.0V , -55°C
≤
T
A
≤
+125°C
参数
读周期时间
地址访问时间
芯片选择访问时间
OE #到输出有效
芯片选择到输出高Z( 1 )
OE #高到输出高Z( 1 )
从地址输出保持, FCS #或OE #变化,
取其科幻RST
1.由设计保证,未经测试。
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
t
AXQX
符号
民
t
RC
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
t
OH
0
70
70
70
35
20
20
0
-70
最大
民
90
90
90
40
25
25
0
-90
最大
民
120
120
120
50
30
30
-120
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
怀特电子设计公司保留更改产品或特定网络阳离子,恕不另行通知。
2004年10月
第4版
5
怀特电子设计公司 ( 602 ) 437-1520 www.wedc.com