WS57C71C
高速32K
x
8 CMOS PROM / RPROM
超快速存取时间
= 35 ns的
主要特点
免疫闭锁
- 高达200 mA的
低功耗
快速编程
ESD保护超过2000V
可在300英里DIP和PLDCC
概述
该WS57C71C是一个高性能256K紫外线可擦电重新可编程只读存储器
( RPROM ) 。它是制造先进的CMOS工艺,并采用节水灌溉的专利的自对准分栅
EPROM单元。
该WS57C71C的行业标准PROM引脚配置提供从16K ×8简便的升级途径
装置。
这RPROM能够以速度一样快操作的35 ns地址存取时间,这使它能够被用于
直接与当今快速微处理器和DSP处理器,而不会引入任何的等待状态。所有的输入和
输出为TTL兼容。该WS57C71C是即使以最快的速度运行的低功耗器件。该
DIP版本打包为用户提供300英寸宽DIP封装节省电路板空间。
框图
引脚配置
顶视图
芯片载体
CERDIP
A
9
A
8
A
7
A
6
A
5
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
O
0
O
1
O
2
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
V
CC
A10
A11
A12
A13
A14
CS3
CS2
CS1/VPP
O
7
O
6
O
5
O
4
O
3
9
A6 - A14
ROW
地址
ROW
解码器
262,144位
9
A0 - A5
COLUMN
地址
COLUMN
解码器
SENSE
放大器器
A
6
A
5
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
NC
O
0
CS1 / V
PP
CS2
CS3
8
4 3 2
32 31 30
1
5
29
6
28
7
27
8
26
9
25
10
24
11
23
12
22
13
21
14 15 16 17 18 19 20
O
1
O
2
GND
A
7
A
8
A
9
NC
V
CC
A
10
A
11
EPROM阵列
A
12
A
13
A
14
NC
CS3
CS2
CS1/VPP
O
7
O
6
NC
3
O
4
O
5
输出
产品选择指南
参数
地址访问时间(最大值)
CS到输出有效时间(最大值)
WS57C71C-35
35纳秒
15纳秒
WS57C71C-45
45纳秒
20纳秒
WS57C71C-55
55纳秒
20纳秒
WS57C71C-70
70纳秒
30纳秒
返回到主菜单
2-55
WS57C71C
绝对最大额定值*
储存温度............................- 65 °至+ 150°C
任何引脚的电压
对于地面....................................- 0.6V至+ 7V
V
PP
相对于地面...................- 0.6V至+ 13V
ESD保护................................................ ..
& GT ;
2000V
模式选择
引脚
模式
读
CS1/
CS2 CS3 V
CC
输出
V
PP
V
IL
V
IH
X
V
IL
X
X
V
IH
V
IH
V
IL
X
X
V
IH
V
IH
V
IL
V
IL
V
CC
V
CC
V
CC
V
CC
V
CC
V
CC
V
CC
D
OUT
高Z
高Z
高Z
D
IN
D
OUT
D
OUT
输出禁用V
IH
输出禁用
输出禁用
节目
程序校验
X
X
V
PP
V
IL
*
注意:
超出上述"Absolute最大上市
Ratings"可能对器件造成永久性损坏。
这是一个额定值只和功能操作
该设备在这些或以上的任何其他条件
在这个业务部门的说明
特定网络阳离子是不是暗示。暴露在绝对
极限条件下的长时间
时间会影响器件的可靠性。
编程禁止V
PP
工作范围
范围
广告
产业
军事
温度
0 ° C至+ 70°C
-40 ° C至+ 85°C
-55 ° C至+ 125°C
V
CC
+5V ± 10%
+5V ± 10%
+5V ± 10%
DC读取特性
在整个工作范围。 (见上文)
符号
V
IL
V
IH
V
OL
V
OH
参数
输入低电压
输入高电压
输出低电压
输出高电压
V
CC
工作电流
( CMOS)的
(注3)
(注3)
I
OL
= 16毫安
I
OH
= -4毫安
V
CC
= 5.5 V , F = 0兆赫(注1 ) ,
输出不加载
新增3毫安/ MHz的交流操作
V
CC
= 5.5 V , F = 0兆赫(注2 ) ,
输出不加载
新增3毫安/ MHz的交流操作
V
IN
= 5.5V或GND
V
OUT
= 5.5 V或GND
Comm'l
产业
军事
Comm'l
产业
军事
–10
–10
2.4
30
35
35
50
60
60
10
10
测试条件
民
–0.1
2.0
最大
0.8
V
CC
+ 0.3
0.4
单位
V
V
V
V
mA
mA
mA
mA
mA
mA
A
A
I
CC1
I
CC2
V
CC
工作电流
( TTL)的
输入漏
当前
输出漏
当前
I
LI
I
LO
注意事项:
1. CMOS输入: GND ± 0.3V或V
CC
± 0.3V.
2. TTL输入: V
IL
≤
0.8V, V
IH
≥
2.0V.
3.这是绝对的电压相对于设备的接地引脚,包括所有因系统和/或测试噪音过冲。
不要尝试没有合适的设备来测试这些值。
2-56
WS57C71C
电容
(4)
T
A
= 25 ° C,F = 1兆赫
符号
C
IN
C
OUT
C
VPP
参数
输入电容
输出电容
V
PP
电容
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
V
PP
= 0 V
典型值
(5)
4
8
18
最大
6
12
25
单位
pF
pF
pF
注意事项:
4.此参数仅取样,而不是100%测试。
5.Typical数值为T
A
= 25 ° C和标称电源电压。
测试负载
(高阻抗测试系统)
交流测试输入/输出波形
98
2.01 V
D.U.T.
3.0
1.5
30 pF的
(包括SCOPE
,夹具
电容)
0.0
TEST
要点
1.5
AC测试输入驱动的3.0 V的逻辑"1"和0.0 V
对于逻辑"0."定时测量是在1.5 V的制作
输入和输出的转换在两个方向上。
注意:
6.提供充分的去耦电容尽可能靠近该器件,从而实现所公布的AC和DC参数。
一个0.1微法的电容并联一个0.01微法的电容器连接V之间
CC
并推荐地。
去耦不足可能会导致访问时间降解或其它瞬态性能故障。
2-58